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電子デバイス技術委員会 (IEE-EDD)
電子材料研究会 (IEE-EFM)
電磁環境技術委員会 (IEE-EMC)
電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
家電・民生技術委員会 (IEE-HCA)
産業電力電気応用研究会(解散) (IEE-IEA)
次世代産業システム (IEE-IIS)
情報システム研究会 (IEE-IS)
ITS研究会 (IEE-ITS)
マグネティックス研究会 (IEE-MAG)
医用・生体工学技術委員会 (IEE-MBE)
マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
光・量子デバイス技術委員会 (IEE-OQD)
スマートファシリティ研究会 (IEE-SMF)
半導体電力変換研究会 (IEE-SPC)
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マルチメディアストレージ研究会 (ITE-MMS)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
DC
2012-06-22
13:00
東京
機械振興会館
故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価
○
若杉諒介
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
九大
)
DC2012-9
従来,VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている.しかしながら,近年VLSIの大...
[more]
DC2012-9
pp.1-6
R
2012-06-15
13:15
東京
機械振興会館
LSI構造解析によるトラブル未然防止に関する研究 ~ 発電プラント用電子部品の信頼性向上に向けた取り組み ~
○
村上和也
・
角本雄一
(
東芝
)
R2012-11
産業用製品に適用する電子部品は高信頼性が求められる.しかしながら,電子部品の高機能・高性能化,多様化にともない,従来の信...
[more]
R2012-11
pp.1-5
SS
2012-03-13
13:55
沖縄
てんぶす那覇
SMTソルバーとPDG作成ツールを用いたJavaのテストケース自動導出手法の提案
○
佐々木幸広
・
小林和貴
・
岡野浩三
・
楠本真二
(
阪大
)
SS2011-66
Design by Contract に基づく表明の生成手法には静的生成手法と動的生成手法が存在する.動的生成手法では,...
[more]
SS2011-66
pp.55-60
NS
2012-01-27
16:00
沖縄
琉球大学
[奨励講演]MDTにおけるカバレッジホール統計的推定
○
泉川晴紀
・
松中隆志
・
岸 洋司
(
KDDI研
)
NS2011-175
筆者らは,セルラシステムなどの無線システムのカバレッジマップ/カバレッジホールマップを,受信信号強度や受信信号品質といっ...
[more]
NS2011-175
pp.175-178
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
(連催)
ICD
,
CPM
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2011-11-30
11:20
宮崎
ニューウェルシティ宮崎
組込み自己テストにおける温度均一化制御
○
村田絵理
(
奈良先端大
)・
大竹哲史
(
大分大/JST
)・
中島康彦
(
奈良先端大
)
VLD2011-86 DC2011-62
LSI の微細化及び高速化に伴い,製造不良や出荷後の劣化による微小遅延欠陥がチップの信頼性に関わる重要な問題となっている...
[more]
VLD2011-86
DC2011-62
pp.197-202
KBSE
2011-11-11
11:00
長野
信州大学工学部
上流文書成果物からのテストケース設計におけるRDFストアを用いた自動化手法
○
岩間 太
・
中村大賀
(
日本IBM
)
KBSE2011-47
要求・仕様書や設計書などの上流文書成果物に対応して計画・実施される統合・システムレベルのテスト設計では,コードを対象とし...
[more]
KBSE2011-47
pp.67-72
R
2011-10-21
13:30
福岡
九州大学箱崎キャンパス(福岡市)
異常検知のためのデータベースモデルを用いた正常状態予測法の予測精度の事前評価
○
田中耕平
・
藤原朱実
・
木村直樹
・
柘植義文
(
九大
)
R2011-27
負荷変動を伴うプラントでは正常値が一定でないため、異常検知を行うことは難しいが、プラントの正常状態の予測が行えれば,異常...
[more]
R2011-27
pp.1-6
KBSE
2011-09-22
09:00
海外
オーシャングランドホテル済州
要求分析モデルの妥当性検証のためのインタラクティブなテストデータ定義支援ツール
○
式見 遼
・
小形真平
・
松浦佐江子
(
芝浦工大
)
KBSE2011-32
我々は,要件の妥当性確認の支援を目的として,ユーザとシステムのインタラクション観点からのUML要求分析モデルの定義と,そ...
[more]
KBSE2011-32
pp.49-54
EA
2011-06-24
11:15
北海道
北海道医療大学
実験要因が主観音質評価結果に及ぼす影響 ~ ITU-R勧告BS.1116における評価テストサイトと繰り返し試行 ~
○
渡辺 馨
(
NHK
)・
中山靖茂
(
NHKエンジニアリングサービス
)・
丸井淳史
・
亀川 徹
(
東京藝術大
)・
Catherine Colomes
(
France Telecom
)
EA2011-38
低ビットレートオーディオ符号化など「劣化の少ないオーディオシステム」の主観音質評価はITU-R勧告BS.1116に則って...
[more]
EA2011-38
pp.47-52
R
2011-06-17
13:30
東京
機械振興会館
Exact distributions of the median absolute deviation and it's application to test of the equality of two variances
○
Hiroshi Kawakami
・
Hideki Nagatsuka
(
Tokyo Metropolitan Univ.
)・
Toshinari Kamakura
(
Chuo Univ.
)・
Hisashi Yamamoto
(
Tokyo Metropolitan Univ.
)
R2011-15
In reliability engineering, robust methods of estimation and...
[more]
R2011-15
pp.1-6
R
2011-06-17
13:55
東京
機械振興会館
パラメーターの順序関係を考慮した検定及び多変量管理図手法における一考察
○
藤間大典
・
長塚豪己
・
山本久志
(
首都大東京
)
R2011-16
既存の多変量統計的工程管理手法においては, 変量の次元数が増加すると検出力が劇的に低下するという問題が残されている. こ...
[more]
R2011-16
pp.7-12
NS
2011-05-19
10:50
東京
上智大学
信頼度の高いカバレッジマップ構築法
○
泉川晴紀
・
難波 忍
・
岸 洋司
(
KDDI研
)
NS2011-19
セルラシステムなどの無線システムのカバレッジマップを、受信信号強度や受信信号品質といった無線品質情報と位置情報とから構成...
[more]
NS2011-19
pp.19-22
CQ
,
CS
(併催)
2011-04-22
13:55
鹿児島
屋久島環境文化村センター
避難所通信システムに用いる無線メッシュネットワークのネットワーク品質に関する検討
○
山口 匠
・
菅原大地
・
間瀬憲一
(
新潟大
)
CQ2011-16
「避難所通信システム」は,避難所間を無線メッシュネットワークで結び,インターネットに接続することにより避難所間及び避難所...
[more]
CQ2011-16
pp.89-94
KBSE
2011-03-10
14:20
大分
別府国際コンベンションセンター
UML要求仕様からのカバレッジに基づく機能テストのテストケース生成
○
式見 遼
・
小形真平
・
松浦佐江子
(
芝浦工大
)
KBSE2010-48
システム開発において,テスト段階では開発したシステムが要求仕様を満たしていることを検証しなければならない.この検証のため...
[more]
KBSE2010-48
pp.7-12
DC
2011-02-14
10:00
東京
機械振興会館
メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発
○
浅川 毅
・
松埜 智
(
東海大
)・
土屋秀和
(
日立ハイテクエンジニアリングサービス
)・
関 達也
・
熊澤慎一
(
テクニカ
)
DC2010-59
メモリモジュールメーカでは,品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある.しかし,市販されているメ...
[more]
DC2010-59
pp.1-6
DC
2011-02-14
11:00
東京
機械振興会館
製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析
○
柏崎智史
・
細川利典
(
日大
)・
吉村正義
(
九大
)
DC2010-61
近年,製造テストで正常VLSIと判定され,出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し,不良VLSIとなるもの...
[more]
DC2010-61
pp.13-19
DC
2011-02-14
11:25
東京
機械振興会館
統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ
○
新谷道広
・
畠山一実
・
相京 隆
(
半導体理工学研究センター
)
DC2010-62
LSI の微細化と高速化に伴い,プロセスばらつきの影響でチップのスペックを超えてしまうパラメトリック不良の増大が懸念され...
[more]
DC2010-62
pp.21-26
DC
2011-02-14
11:50
東京
機械振興会館
テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法
○
小副川絵美子
・
米田友和
・
井上美智子
・
藤原秀雄
(
奈良先端大/JST
)
DC2010-63
LSIのフィールド使用時における劣化検知は,LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である.劣化は遅延値の増加とし...
[more]
DC2010-63
pp.27-32
ET
2010-10-30
11:00
岡山
岡山理科大学
Moodleにおけるプログラム穴埋め問題の生成と活用に関する検討
○
新開純子
・
早勢欣和
(
富山高専
)・
宮地 功
(
岡山理科大
)
ET2010-42
eラーニングの形成的テストは,学習者が学習内容の理解度を確認するための主体的学習に利用されている.また,その学習履歴デー...
[more]
ET2010-42
pp.7-10
ICD
(ワークショップ)
2010-08-16
- 2010-08-18
海外
ホーチミン市百科大学
[招待講演]Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism
○
Yasuo Sato
・
Seiji Kajihara
(
Kyusyu Institute of Technology
)・
Michiko Inoue
・
Tomokazu Yoneda
・
Satoshi Ohtake
・
Hideo Fujiwara
(
NAIST
)・
Yukiya Miura
(
Tokyo Metropolitan Univ.
)
The main task of test had traditionally been screening of ha...
[more]
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