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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| LQE | 2009-12-11 11:25 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析 ○竹下達也・佐藤具就・満原 学・近藤康洋・大橋弘美（NTT）  LQE2009-143 |
2.3$\micron$m波長InAs/InP-MQW-DFBレーザで推定寿命$10^5$h以上(@45℃3mW)の長期... [more] | LQE2009-143 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 14:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | 劣化検知テストにおけるパス選択について ○野田光政（九工大）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） VLD2009-65 DC2009-52 |
VLSIの微細化に伴い，経時劣化による故障への対応が重要になってくる．劣化の進行度合いは，同じ回路であっても回路内の箇所... [more] | VLD2009-65 DC2009-52 pp.167-172 |
| OPE, CPM, R (共催) |
2008-04-18 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析 ○竹下達也・伊賀龍三・須郷 満・近藤康洋（NTT） R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 |
光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入し... [more] | R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 pp.11-16 |
| OPE, LQE, OCS (共催) |
2006-10-13 15:20 |
福岡 | 九大 筑紫キャンパス | 高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ ○竹下達也・田所貴志・伊賀龍三・東盛裕一（NTT）・山本ミツ夫（NEL）・須郷 満（NTT） OCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100 |
95℃で1000FITs以下の信頼度をもち、さらに、-20℃から100℃の温度範囲でエラーフリー・2.5Gbps・80k... [more] | OCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100 pp.91-95 |
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