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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 13:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints ○Lele Jiang・Tatsuhiro Tsuchiya（Osaka Univ.）  DC2022-85 |
[more] | DC2022-85 pp.16-20 |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:50 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | SATソルバを用いた低消費電力向けテストパタン圧縮手法について ○松永裕介（九大） VLD2017-43 DC2017-49 |
本稿ではSATソルバを用いた低消費電力向けテストパタン圧縮手法の提案を行 う． 基本となるアイデアは，元の制... [more] |
VLD2017-43 DC2017-49 pp.95-99 |
| SS, DC (共催) |
2017-10-20 09:30 |
高知 | 高知市文化プラザかるぽーと | SMTを用いた制約付きロケーティングアレイの生成について ○金 浩（阪大）・崔 銀惠（産総研）・土屋達弘（阪大） SS2017-30 DC2017-29 |
本研究では,ソフトウェアシステムに対するテスト手法の一例である組み合わせテストについて議論す る.具体的には,組み合わ... [more] |
SS2017-30 DC2017-29 pp.55-60 |
| SIP, CAS, MSS, VLD (共催) |
2017-06-20 14:50 |
新潟 | 新潟大学五十嵐キャンパス 中央図書館ライブラリーホール | 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について ○松永裕介（九大） CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 |
本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． ... [more] |
CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 pp.107-112 |
| KBSE | 2016-05-27 10:00 |
東京 | 同志社大学 東京オフィス | バグ検出力評価能力を維持したミュータント削減手法 上野智弘・○芳賀博英（同志社大） KBSE2016-5 |
テストセットの品質を評価する手法の1つに，ミューテーション解析がある．この手法では，プログラムに故意にバグを埋め込んだミ... [more] | KBSE2016-5 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 13:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成 ○上岡真也・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） VLD2015-40 DC2015-36 |
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] | VLD2015-40 DC2015-36 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 14:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成 ○嶋津大地・大竹哲史（大分大） VLD2015-70 DC2015-66 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する． 従来より使用されているシ... [more] |
VLD2015-70 DC2015-66 pp.213-218 |
| DC | 2015-06-16 16:25 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | ソフトウェアテスト用テストケース生成における2分決定図を用いた制約処理 ○土屋達弘（阪大） DC2015-21 |
組み合わせテストを対象として，テスト生成で重要となる制約処理に関して議論する．組み合わせテストとは，特定の機能の組み合わ... [more] | DC2015-21 pp.31-34 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 09:40 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法 ○平井淳士・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2014-98 DC2014-52 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | VLD2014-98 DC2014-52 pp.179-184 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 08:55 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 ○本田太郎・大竹哲史（大分大） VLD2013-92 DC2013-58 |
本稿では，遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法では，故障を検出するテ... [more] | VLD2013-92 DC2013-58 pp.227-231 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | RTL情報を用いた高品質遷移故障テスト生成法 ○中島寛之・大竹哲史（大分大） VLD2013-94 DC2013-60 |
大規模集積回路(VLSI)の微細化や高速化に伴い，遅延故障のテストが重要になっている．遅延故障とは，論理ゲートや配線の遅... [more] | VLD2013-94 DC2013-60 pp.239-244 |
| SS, IPSJ-SE (連催) |
2013-10-25 13:30 |
石川 | ITビジネスプラザ武蔵（金沢市内） | ランダムテストを利用した制約のあるインタラクションテストの効率的なテストケース生成 ○平﨑靖博・小島英春・土屋達弘（阪大） SS2013-45 |
本稿ではランダムテストを利用したインタラクションテストについて議論する． ランダムテストにはテストケースの生成が非常に... [more] |
SS2013-45 pp.163-166 |
| DC | 2013-06-21 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 ○森保孝憲・大竹哲史（大分大） DC2013-11 |
本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テ... [more] | DC2013-11 pp.7-12 |
| SS | 2013-01-10 16:00 |
沖縄 | 沖縄県石垣市民会館 | パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストの不具合検出率について ○重岡大樹・小島英春・土屋達弘（阪大） |
本稿ではテストケース生成手法の一つであるランダムテストについて議論する.ランダムテストとはパラメータ値をランダムに設定し... [more] | SS2012-51 pp.31-35 |
| DC | 2008-02-08 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法 ○井上諒一・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-78 |
我々は，オーバーテストやアンダーテストを抑制するために，状態可観測な状態遷移機械（FSM）の論理故障テストやタイミング故... [more] | DC2007-78 pp.69-76 |
| VLD, IPSJ-SLDM (共催) |
2006-05-12 11:15 |
愛媛 | 愛媛大学 | Power-Conscious Microprocessor-Based Testing of System-on-Chip ○Fawnizu Azmadi Hussin・Tomokazu Yoneda（NAIST）・Alex Orailoglu（Univ. of California）・Hideo Fujiwara（NAIST） |
[more] | VLD2006-10 pp.25-30 |
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