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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2023-12-08
13:50
長崎 アルカスSASEBO
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法
曽根隆暢細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2023-88
近年,超大規模集積回路の大規模化により,多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている.組込み自己... [more] DC2023-88
pp.7-12
DC 2023-02-28
15:15
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法
徐 雁レイ三浦 怜・○細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2022-89
近年超大規模集積回路の微細化,高速化,電源電圧の低電圧化により,タイミング遅延を伴う欠陥が増加している.それゆえ, 遷移... [more] DC2022-89
pp.39-44
DC 2022-03-01
14:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法
岩本岬汰郎大竹哲史大分大DC2021-74
LFSRを用いたLSIのBISTにおいて,ランダムパターン耐性故障を検出するシードを求めるニーズがある.これまでに,AT... [more] DC2021-74
pp.57-62
PRMU, BioX
(共催)
2018-03-19
16:30
東京 青山学院大学 青山キャンパス 協調フィルタリングによる字形モデル推定に基づく手書き文字クローン生成
宮崎永爾中村和晃新田直子馬場口 登阪大BioX2017-73 PRMU2017-209
本稿では,個人の手書き文字に似せて自動生成された文字画像を手書き文字クローン(Handwritten Character... [more] BioX2017-73 PRMU2017-209
pp.219-224
SDM 2018-02-08
16:10
東京 東京大学/本郷 [招待講演]分子接合技術による次世代配線形成
八甫谷明彦東芝)・森 邦夫いおう化学研SDM2017-103
被着体に分子1層を化学的に結合させて材料表面全体を同一化し,強固に接合できる分子接合技術を適用した。この技術を用いて,平... [more] SDM2017-103
pp.31-34
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-06
14:30
熊本 くまもと県民交流館パレア 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法
渡邊恭之介大竹哲史大分大VLD2017-35 DC2017-41
大規模集積回路の微細化や高速化に伴い,遅延テストの重要性が高まっている.
遅延故障モデルとして,論理ゲートの遅延が増加... [more]
VLD2017-35 DC2017-41
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
14:10
長崎 長崎県勤労福祉会館 遅延故障BIST向けLFSR/MISRシード生成
嶋津大地大竹哲史大分大VLD2015-70 DC2015-66
本稿では,遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSR及びMISRシード生成法を提案する.
従来より使用されているシ... [more]
VLD2015-70 DC2015-66
pp.213-218
DC 2015-02-13
15:20
東京 機械振興会館 階層BIST向けLFSRシード生成法
佐脇光亮大竹哲史大分大DC2014-85
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある.
LFS... [more]
DC2014-85
pp.43-48
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-29
08:55
鹿児島 鹿児島県文化センター 遅延故障BIST向けLFSRシード生成法
本田太郎大竹哲史大分大VLD2013-92 DC2013-58
本稿では,遅延故障に対するスキャンBIST向けのLFSRシード生成法を提案する.従来のシード生成法では,故障を検出するテ... [more] VLD2013-92 DC2013-58
pp.227-231
DC 2013-06-21
14:15
東京 機械振興会館 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法
森保孝憲大竹哲史大分大DC2013-11
本稿では,LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する.従来のシード生成法は,テ... [more] DC2013-11
pp.7-12
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