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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| NLP | 2015-07-21 16:20 |
北海道 | ピパの湯 ゆ～りん館（北海道美唄市） | 環状に9もしくは10個のvan der Pol発振器をインダクタによって結合した系にみられる波動現象の解析 ○高野涼平・藤本昌平・山内将行・前田俊二・田中 武（広島工大）  NLP2015-73 |
発振器の結合系においては, 様々な同期現象が観測できる。カオス発振器を繋いだような系以外では, 同期状態が常に変化し続け... [more] | NLP2015-73 pp.31-36 |
| DC | 2014-12-19 13:00 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 ○佐藤康夫・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2014-67 |
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが，NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問... [more] | DC2014-67 pp.1-6 |
| DC | 2014-12-19 13:25 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-68 |
VLSI動作時の信頼性確保に，チップへの温度モニタの搭載が有効であり，リングオシレータを用いてその周波数から温度測定する... [more] | DC2014-68 pp.7-12 |
| MW | 2014-12-18 13:50 |
東京 | 青山学院大 青山キャンパス | アウトフェーズ増幅のための位相可変発振器の雑音特性に関する検討 ○遠藤 健・高橋勇人・塩見英久・岡村康行（阪大） MW2014-157 |
本技報では、アウトフェーズ変調器に用いられるVCOとしてリングオシレータとLC発振器の雑音特性についてシミュレーションを... [more] | MW2014-157 pp.49-52 |
| ICD, CPSY (共催) |
2014-12-02 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価 ○岸田 亮・大島 梓・小林和淑（京都工繊大） ICD2014-106 CPSY2014-118 |
近年の集積回路の微細化により，アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている．本稿では，アンテナダメージによる経年劣... [more] | ICD2014-106 CPSY2014-118 pp.123-128 |
| ICD, SDM (共催) |
2014-08-05 14:55 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館（札幌市） | 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価 ○大島 梓・岸田 亮・籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） SDM2014-79 ICD2014-48 |
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい る。本研究では, 65nm バルク・S... [more] |
SDM2014-79 ICD2014-48 pp.93-98 |
| DC | 2014-06-20 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたLSIの劣化推定法 池田龍史・○三浦幸也（首都大東京） DC2014-11 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2014-11 pp.7-14 |
| NLP | 2014-01-22 15:20 |
北海道 | ニセコパークホテル | 異なる自然振動数分布を持つ複数位相振動子集団のダイナミクスについて ○寺田 裕（京大）・青柳富誌生（京大/JST） NLP2013-159 |
同期現象は自然現象が示す興味深い現象の一つであり，位相振動子集団を考えることで多くの理論的研究が行われてきた．しかし，同... [more] | NLP2013-159 pp.157-161 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価 ○岸田 亮・籔内美智太郎・大島 梓・小林和淑（京都工繊大） VLD2013-83 DC2013-49 |
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。 本稿ではリングオシレータにおいて発... [more] |
VLD2013-83 DC2013-49 pp.159-164 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | FPGAにおける複数の周波数特性を実現するためのリングオシレータ構成法の検討 ○三宅庸資・門田正文・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-84 DC2013-50 |
FPGAは高信頼性システムを含めたさまざまな組込みシステムに利用されており，信頼性の確保が重要になっている．VLSIの信... [more] | VLD2013-84 DC2013-50 pp.165-170 |
| MW, AP (併催) |
2013-09-12 13:25 |
東京 | NHK技研 | 注入同期の物理的限界の実現について ～ 応用例 ～ ○矢部洋司・飯倉秀策・中田一紀・守川知行・Temuulen Enkhee・永留遼平・田中久陽（電通大） MW2013-89 |
注入同期により，発振器の周波数安定性を向上できるため，様々な応用のための着実な研究が進められてきた．しかし，注入同期の性... [more] | MW2013-89 pp.5-10 |
| ASN, RCS, NS, SR (併催) |
2013-07-18 15:45 |
静岡 | アクトシティ浜松 | ［ポスター講演］ダイナミック周波数共用のためのロバスト多値仮説検定の一検討 ○三浦昂史・梅林健太（東京農工大）・Janne J Lehtomaki（オウル大）・鈴木康夫（東京農工大） NS2013-60 RCS2013-111 SR2013-49 ASN2013-78 |
本稿では，既存ユーザ(Primary User:PU)と新規ユーザ(Secondary User:SU)による周波数共用... [more] | NS2013-60 RCS2013-111 SR2013-49 ASN2013-78 pp.137-142(NS), pp.179-184(RCS), pp.153-158(SR), pp.165-170(ASN) |
| DC | 2013-06-21 16:30 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法 ○池田龍史・三浦幸也（首都大東京） DC2013-15 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2013-15 pp.31-36 |
| DC | 2013-02-13 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 ○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-89 |
VLSIの微細化に伴い，劣化による回路遅延の増加が問題となっている．劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで... [more] | DC2012-89 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 ○津森 渉・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） VLD2012-101 DC2012-67 |
システムの信頼性の確保のために，フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある．... [more] | VLD2012-101 DC2012-67 pp.243-248 |
| NC | 2012-10-05 13:35 |
福岡 | 九州工業大学 生命体工学研究科 | 局所情報をもつスパイキングニューラルネットワークを用いた無線センサネットワークにおける情報収集機構 ○藤田一輝・中野秀洋・宮内 新（東京都市大） NC2012-54 |
無線センサネットワーク(WSNs)では, 観測領域に小型のセンサノードを散布し 即席のネットワークを形成してセンシング... [more] |
NC2012-54 pp.103-107 |
| NLP, CAS (共催) |
2012-09-21 14:50 |
高知 | 高知県立大学 永国寺キャンパス | 単電子リングオシレータ結合回路網の同相化の検討 ○野田遥華・永田啓介・藤坂尚登・神尾武司・生岩量久（広島市大） CAS2012-46 NLP2012-72 |
単電子トランジスタを用いて構成したリングオシレータは電子のトンネリングが確率的であるため非常に大きな位相雑音を持つ. 本... [more] | CAS2012-46 NLP2012-72 pp.87-91 |
| MW | 2012-03-02 10:30 |
佐賀 | 佐賀大学 | 正帰還型Push-Push発振器を用いた発振器アレー ○高田健太・川崎健吾・田中高行・相川正義（佐賀大） MW2011-181 |
本稿では，正帰還型Push-Push発振器を用いた発振器アレーについて述べる．本発振器アレーではPush-Push発振器... [more] | MW2011-181 pp.77-80 |
| DC | 2012-02-13 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） DC2011-86 |
VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化に伴い，劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し，障害発生による... [more] | DC2011-86 pp.61-66 |
| NLP | 2011-05-26 13:50 |
香川 | 小豆島オリーブ公園オリーブ記念館大研修室 | 全結合および最近接結合単電子リングオシレータの解析 ○石田雅和・永田啓介・藤坂尚登・神尾武司・生岩量久（広島市大） NLP2011-3 |
単電子トランジスタを用いてリングオシレータを構成したとき，単独ではトンネリングが確率的であるた め位相雑音が非常に大き... [more] |
NLP2011-3 pp.9-14 |
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