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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2017-05-26
12:30
岡山 ピュアリティまきび チェンジポイントを考慮したソフトウェア信頼性評価のためのマルコフ型モデル
井上真二関西大)・山田 茂鳥取大R2017-1
ソフトウェアのテスト期間中に観測されるチェンジポイントと,より現実的な不完全デバッギング環境を同時に考慮したマルコフ型ソ... [more] R2017-1
pp.1-6
NS, IN
(併催)
2017-03-03
13:20
沖縄 沖縄残波岬ロイヤルホテル 避難者・モバイル端末間連携型自動避難誘導における経路の長さと信頼性を考慮した避難経路選択方式に関する一検討
原 崇徳笹部昌弘笠原正治奈良先端大NS2016-247
大規模災害発生後,避難者は迅速に避難先に移動する必要がある.既存研究では,避難者とモバイル端末,モバイル端末とネットワー... [more] NS2016-247
pp.517-522
PRMU, MVE
(共催)
IPSJ-CVIM
(連催) [詳細]
2017-01-19
18:35
京都 京都大学 吉田キャンパス 百周年時計台記念館 QRS群電位特性を用いたウェアラブル心電計用のRRI計測信頼度評価
江口佳那青木良輔吉田和広山田智広NTTPRMU2016-140 MVE2016-31
ウェアラブル心電計では,計測異常によるアーチファクトが生じやすい.アーチファクトはR波と誤判定されやすく,RRIの誤算出... [more] PRMU2016-140 MVE2016-31
pp.171-176
R 2016-12-16
15:55
神奈川 マホロバマインズ三浦(神奈川県三浦市) オープンソースソフトウェアのバグ修正過程に関する定量的考察
後田貴博広島大)・齋藤靖洋海上保安大)・○土肥 正岡村寛之広島大R2016-57
ソースコードが誰にでも利用可能で,自由にソフトウェアを学習, 変更, 配布するための権利を提供するライセンスに基づいた
... [more]
R2016-57
pp.19-24
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter Weckxルーベン・カトリック大/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-03
09:45
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発
吉本裕平加藤佳一小笠原 悟魏 志強河野和幸PSCSSDM2016-61 ICD2016-29
Physically Unclonable Function(PUF)は,製造ばらつきをチップ固有のIDとして利用し,複... [more] SDM2016-61 ICD2016-29
pp.89-94
R 2016-07-29
13:30
北海道 小樽経済センター(4階Aホール) チェンジポイントを考慮したハザードレートモデルに基づく最適リリース問題に関する考察
井上真二山田 茂鳥取大R2016-13
ソフトウェアのテスト工程では,フォールトターゲットの変更やモジュール間のフォールト混入率の違い等により,ソフトウェア故障... [more] R2016-13
pp.1-6
R 2016-05-28
15:40
愛知 ウインクあいち テスト環境を考慮した二項ソフトウェア信頼性モデルに関する考察
井上真二山田 茂鳥取大R2016-7
ソフトウェア開発におけるテストの実施に伴って観測されるソフトウェア故障発生現象やフォールト発見事象は,達成されたテスト網... [more] R2016-7
pp.39-44
ICD 2016-04-14
14:15
東京 機械振興会館 [依頼講演]ReRAM reliability characterization and improvement by machine learning
Tomoko Ogura IwasakiSheyang NingHiroki YamazawaChao SunShuhei TanakamaruKen TakeuchiChuo Univ.ICD2016-8
The low voltage and fast program capability of ReRAM is very... [more] ICD2016-8
pp.39-44
VLD 2016-02-29
13:55
沖縄 沖縄県青年会館 等価変換に基づくテストプログラム生成によるCコンパイラのランダムテスト
中村和博石浦菜岐佐関西学院大VLD2015-112
本稿では, C コンパイラの信頼性向上を目的としたランダムテストにおいて, プログラムの等価変換によってテストプログラム... [more] VLD2015-112
pp.7-12
SDM 2016-01-22
10:05
東京 東京大学 山上会館 [招待講演]400万個のマイクロバンプ接続を有する1600画素3次元積層型イメージセンサの信頼性試験結果
竹本良章高澤直裕月村光弘齊藤晴久近藤 亨加藤秀樹青木 潤小林賢司鈴木俊介五味祐一松田成介只木芳隆オリンパスSDM2015-108
チップ内に400万個の7.6umピッチマイクロバンプ接続を有する3次元積層型イメージセンサの信頼性試験を評価した結果につ... [more] SDM2015-108
pp.1-4
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 [招待講演]パッケージ基板の層間接続ビア構造における電源インピーダンス低減技術
赤星知幸福盛大雅水谷大輔谷 元昭富士通研CPM2015-136 ICD2015-61
LSIの電源ノイズ低減を目的としたパッケージ基板の電源配線ビア構造における開発技術を紹介する。LSIを搭載する多層ビルド... [more] CPM2015-136 ICD2015-61
pp.51-54
R 2015-07-31
16:35
青森 ホテルニューグリーン JIS信頼性設計及び信頼性解析用語の最新動向 ~ JIS Z 8115改正原案とIEC60050-192初版を比較して ~
益田昭彦R7工房)・西 干機DNV)・後藤博之FDK)・川島 興オリエンタルモーター)・原田文明富士ゼロックスATR2015-21
IEC60050-192のディペンダビリティ(信頼性)用語規格が2015年2月に制定された.実に,前のIEC60050-... [more] R2015-21
pp.43-48
R 2015-06-19
14:50
東京 機械振興会館 アルミ電解コンデンサの短期評価手法の検討
角本雄一村上和也安達健二東芝R2015-13
品質工学を用いた評価手法を検討し、従来の長期間の信頼性試験よりも短時間でアルミ電解コンデンサを評価する技術を開発した。静... [more] R2015-13
pp.19-24
RECONF, CPSY, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2015-01-30
14:20
神奈川 慶應義塾大学 日吉キャンパス 2階層Supervisor Processorにおける信頼性管理機能
山本大貴久我守弘尼崎太樹飯田全広末吉敏則熊本大VLD2014-144 CPSY2014-153 RECONF2014-77
コンピュータシステムは携帯電話やテレビなど民生機器だけでなく,電車や医療機器など様々な産業機器に用いられている. 産業機... [more] VLD2014-144 CPSY2014-153 RECONF2014-77
pp.199-204
R 2014-11-20
15:10
大阪 大阪中央電気倶楽部 最尤推定法に基づくセラミックコンデンサの電圧加速モデルの選択
松岡敏成三菱電機R2014-62
最尤推定法を適用した最適加速モデル選択の手順について既に報告がなされているが,今回の発表はその手法の有効性を検証した結果... [more] R2014-62
pp.7-14
R 2014-11-20
15:35
大阪 大阪中央電気倶楽部 結露試験に関する再現性の課題と微小結露試験による評価方法
西原麻友子林沼一博村田製作所R2014-63
結露サイクル試験はエレクトロケミカルマイグレーション(ECM)の評価方法の一つとして最も一般的であるが,再現性が難しいと... [more] R2014-63
pp.15-19
SS 2014-10-23
15:15
高知 高知市文化プラザかるぽーと リポジトリシステムとソフトウェア信頼性モデルを用いた欠陥数予測
本田 澄鷲崎弘宜深澤良彰早大SS2014-27
ソフトウェアの欠陥はリポジトリシステムによって管理されることが多くなっており,開発からテストとい
ったソフトウェア開発... [more]
SS2014-27
pp.13-16
R 2014-08-01
13:30
北海道 スマイルホテル函館 複数回のチェンジポイントを考慮したソフトウェア信頼性評価のためのハザードレートモデル
井上真二山田 茂鳥取大R2014-14
本研究では,ソフトウェアテスト工程における複数回の環境の変化を考慮したソフトウェア信頼性評価のためのハザードレートモデル... [more] R2014-14
pp.1-6
DC 2014-06-20
15:10
東京 機械振興会館 組込み自己テストのための耐故障応答圧縮器
深澤祐樹三重大)・市原英行井上智生広島市大DC2014-14
高信頼組込み自己テスト(BIST)はBIST回路自身の一時故障による誤りから回復可能であるため,製造テストだけでなく,L... [more] DC2014-14
pp.27-32
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