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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SANE 2017-10-04
14:55
東京 日仏会館(東京) 青森湾西岸断層帯における極浅部層構造のGPRによる解釈
藤澤一樹佐藤源之東北大SANE2017-46
GPR(Ground Penetrating Radar)は地下の極浅部層構造を高精度且つ高速に可視化できる手法で,活断... [more] SANE2017-46
pp.17-22
EMCJ 2016-09-16
11:55
兵庫 兵庫県立大学 電力配電線の事故種別特定のためのモード変換に着目したTDR法
松嶋 徹久門尚史和田修己京大)・大恵慎平笹岡毅志酒井康晴関西電力EMCJ2016-52
架空配電系統において断線などの事故が発生した場合に、事故点や事故種別を早急に特定する必要がある。
停電エリア内の配電線... [more]
EMCJ2016-52
pp.13-18
VLD 2016-02-29
15:50
沖縄 沖縄県青年会館 コンポーネント間近接制約を考慮した整数線形計画法による耐ソフトエラーデータパス合成
呉 政訓金子峰雄北陸先端大VLD2015-116
近年,半導体デバイスの微細化が進み,それに伴ったソフトエラーによるVLSIの信頼性低下が問題となっている.本研究では,単... [more] VLD2015-116
pp.31-36
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
NC, NLP
(併催)
2016-01-29
11:45
福岡 九州工業大学 若松キャンパス WTAスイッチングを有する並列化昇圧コンバータの故障許容力
袴田翔太村田康臣斎藤利通法政大NLP2015-140
本論文では, Winner-Take-Allスイッチングルールを用いた並列化昇圧コンバータについて考察する. この回路は... [more] NLP2015-140
pp.81-86
NS, RCS
(併催)
2015-12-17
11:25
愛媛 松山市総合コミュニティセンター RAID技術を用いたオンラインストレージシステム
藤原貴正王 家宏児玉英一郎高田豊雄岩手県立大NS2015-132
近年のコンピュータやスマートフォン(以後,端末と呼ぶ)の普及により,個人で複数台の端末を所持するケースが増え,職場だけで... [more] NS2015-132
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] VLD2015-42 DC2015-38
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:10
長崎 長崎県勤労福祉会館 コンポーネント間近接制約を考慮した耐ソフトエラーデータパス合成
呉 政訓金子峰雄北陸先端大VLD2015-62 DC2015-58
近年,半導体デバイスの微細化が進み,それに伴ったソフトエラーによるVLSIの信頼性の低下が問題となっている.本研究では,... [more] VLD2015-62 DC2015-58
pp.159-164
DC, CPSY
(共催)
2015-04-17
09:50
東京 明治大学中野キャンパス 高層棟3F, 312教室 時間遅れのないn-フォールトトレラント制御システムの一提案
岩井仁司 CPSY2015-3 DC2015-3
従来、ハザードを取り扱う制御システムにおける多重多数決冗長系は、機能モジュールで出力データを生成後、多数決のためにデータ... [more] CPSY2015-3 DC2015-3
pp.13-18
DC 2015-02-13
15:20
東京 機械振興会館 階層BIST向けLFSRシード生成法
佐脇光亮大竹哲史大分大DC2014-85
組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある.
LFS... [more]
DC2014-85
pp.43-48
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-26
14:45
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) TSV故障検出回路の制御部改良および観測部における面積削減の検討
宮本陽平四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2014-72 DC2014-26
故障TSVで発生する遅延量は極めて小さく,故障検出が困難である.そこで,隣接TSVを考慮したTSV故障検出回路が提案され... [more] VLD2014-72 DC2014-26
pp.3-8
EMCJ 2014-07-10
15:45
東京 機械振興会館 サイドチャネル情報を用いた故障発生タイミング特定手法の実現可能性に関する検討
中村 紘林 優一水木敬明本間尚文青木孝文曽根秀昭東北大EMCJ2014-23
連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による故障注入手法では,暗号モジュール内部の処理にランダムなタイミングでデータ誤りが発... [more] EMCJ2014-23
pp.37-42
NS 2014-01-24
09:50
沖縄 琉球大学 RAID技術を用いたセキュアオンラインストレージシステム
藤原貴正王 家宏児玉英一郎高田豊雄岩手県立大NS2013-172
近年,PCや携帯端末の普及により,個人で複数台の端末を所持するケースが増え,職場だけでなく自宅でもPCを使ってネット接続... [more] NS2013-172
pp.53-58
KBSE 2013-05-31
14:45
神奈川 慶應義塾大学 ヒューマンエラーに対する手順書の耐性検査
永藤直行プレシステム)・渡部卓雄東工大KBSE2013-11
作業手順がヒューマンエラーに対して耐性があるかどうか検査するためにモデル検証の手法を利用する.作業手順には,ヒューマンエ... [more] KBSE2013-11
pp.61-66
SS 2013-05-10
11:45
香川 香川大学(幸町) 小規模プログラムにおけるコメント行数とフォールト潜在性の関係に関する調査
阿萬裕久愛媛大SS2013-12
コメント文はプログラムの可読性を向上させる上で有用な要素であるが,分かりにくいコードとともに書
かれて可読性の相殺に使... [more]
SS2013-12
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(共催)
(連催) [詳細]
2013-03-14
15:05
長崎 対馬市交流センター 会議室 桁上げビットの二重化によるセルフチェッキング桁上げ先見加算器
三苫晃弘京大)・鬼頭信貴中京大)・高木直史京大CPSY2012-98 DC2012-104
本稿では,回路内の単一縮退故障による誤りを検出する,セルフチェッキング桁上げ先見加算器を提案する.提案する加算器は,桁上... [more] CPSY2012-98 DC2012-104
pp.277-282
DC 2013-02-13
13:30
東京 機械振興会館 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価
大栗裕人四柳浩之橋爪正樹徳島大)・堤 利幸山崎浩二明大)・樋上善信高橋 寛愛媛大DC2012-84
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] DC2012-84
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-26
13:00
福岡 九州大学百年講堂 [招待講演]組込み自己テストによるフィールド高信頼化について
梶原誠司九工大VLD2012-65 DC2012-31
出荷後のシステムにおいて,パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで,回路の遅... [more] VLD2012-65 DC2012-31
pp.37-42
MRIS, ITE-MMS
(連催)
2012-07-20
09:50
茨城 茨城大学 日立キャンパス 基板加熱成膜によるc面配向Coスパッタ薄膜の完全六方晶化
野沢直樹斉藤 伸日向慎太朗高橋 研東北大MR2012-16
基板加熱がc面配向Coスパッタ薄膜の原子積層構造に及ぼす効果について評価し,原子積層構造と一軸結晶磁気異方性定数 (Ku... [more] MR2012-16
pp.41-46
DC 2012-06-22
14:20
東京 機械振興会館 [招待講演]シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2012-12
本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] DC2012-12
pp.21-26
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