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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, EID
(共催)
2014-12-12
16:15
京都 京都大学 Si面4H-SiC n-MOSFETにおけるSplit C-V特性の周波数依存性
結城広登奈良先端大)・矢野裕司奈良先端大/筑波大EID2014-33 SDM2014-128
Si面4H-SiCのn-MOSFETを作製し,1Hz~1MHzの範囲でSplit C-V測定を行った.Split C-V... [more] EID2014-33 SDM2014-128
pp.103-107
CPM 2014-10-24
15:20
長野 信州大学工学部 地域共同研究センター3階研修 キャンパスマップ17番 TEOSを用いた熱CVD法による4H-SiC MIS特性に対するH2アニールの効果
狩野巧生赤羽桂幸小林悠太山上朋彦上村喜一信州大CPM2014-109
TEOSを用いた熱CVD法により4H-SiC(0001)Si面にSiO2膜を形成し、作製したSiO2/SiCキャパシタの... [more] CPM2014-109
pp.25-28
SDM 2014-06-19
16:55
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]絶縁膜上におけるIV族半導体多結晶薄膜の低温形成 ~ 低融点Snの活用 ~
黒澤昌志名大/学振)・田岡紀之名大)・池上 浩九大)・竹内和歌奈坂下満男中塚 理財満鎭明名大SDM2014-60
積層型 CMOS 回路や近赤外・中赤外光フォトディテクタの新規材料として,我々は IV 族多元半導体(GeSn, SiS... [more] SDM2014-60
pp.91-95
SDM, OME
(共催)
2014-04-11
10:50
沖縄 沖縄県青年会館 BLDAを用いた低温プロセスpoly-Si TFT
下田清治杉原弘也井村公彦岡田竜弥野口 隆琉球大SDM2014-14 OME2014-14
低コストでの製造プロセスによるpoly-Si TFTは、ガラス上およびフレキシブルパネルに必要とされている。本研究では、... [more] SDM2014-14 OME2014-14
pp.59-61
SDM, OME
(共催)
2014-04-11
11:10
沖縄 沖縄県青年会館 ブルーマルチレーザダイオードアニールを施したガラス上Si薄膜の光伝導特性
コスワッタゲー チャリット ジャヤナダ知念 怜杉原弘也岡田竜弥野口 隆琉球大SDM2014-15 OME2014-15
ガラス上のSi膜の機能光センサ応用をめざし、ブルーマルチレーザダイオードアニール(BLDA)を施したSi膜の光伝導性につ... [more] SDM2014-15 OME2014-15
pp.63-65
SDM 2013-12-13
17:00
奈良 奈良先端科学技術大学院大学 界面にリンおよび窒素を導入した4H-SiC MOSFETのしきい値電圧不安定性の考察
金藤夏子矢野裕司大澤 愛畑山智亮冬木 隆奈良先端大SDM2013-132
シリコンカーバイド(SiC)製MOSFETは高耐圧でも低損失な新しいパワーデバイスとして期待されているが,しきい値電圧の... [more] SDM2013-132
pp.97-100
CPM, LQE, ED
(共催)
2013-11-29
11:25
大阪 大阪大学 吹田キャンパス サファイア上AlN緩衝層のN2-COアニールとMOVPE法による高温成長
西尾 剛鈴木周平三宅秀人平松和政三重大)・福山博之東北大ED2013-80 CPM2013-139 LQE2013-115
AlNはワイドギャップ半導体であり,熱及び化学的特性が安定であることから,深紫外光デバイス材料として注目されている.本研... [more] ED2013-80 CPM2013-139 LQE2013-115
pp.75-78
CPM 2013-10-25
09:55
新潟 新潟大ときめいと FeおよびFeSi積層膜からの固相反応法によるSi上鉄シリサイド薄膜形成
籾山克章鹿又健作有馬ボシールアハンマド久保田 繁廣瀬文彦山形大CPM2013-103
直接遷移半導体膜として期待されるβ-FeSi2をSi上に鉄あるいは鉄シリサイド膜を形成して、固相反応法を用いて作製した。... [more] CPM2013-103
pp.49-52
EMD, CPM, OME
(共催)
2013-06-21
15:55
東京 機械振興会館 LiNbO3基板上におけるCr2O3薄膜の結晶成長
中村拓未黒田卓司岩田展幸山本 寛日大EMD2013-20 CPM2013-35 OME2013-43
c面およびr面LiNbO3(LNO)基板のアニール最適条件探索を行った。c面では温度700ºC~950ºC、5~12時間... [more] EMD2013-20 CPM2013-35 OME2013-43
pp.71-76
SDM 2013-06-18
15:10
東京 機械振興会館 [依頼講演]POCl3アニールによるSiC-MOSデバイスの高性能化
矢野裕司畑山智亮冬木 隆奈良先端大SDM2013-58
POCl3アニールによりSiO2/4H-SiC界面にリンを導入したMOSデバイスの特性を調査した。従来法のNOアニールに... [more] SDM2013-58
pp.71-76
SDM 2013-06-18
16:10
東京 機械振興会館 [依頼講演]熱酸化SiC-MOSデバイス中の可動イオンの異常生成と特性改善技術
渡部平司チャンタパン アタウット阪大)・中野佑紀中村 孝ローム)・細井卓治志村考功阪大SDM2013-61
熱酸化によって4H-SiC(0001)基板上に形成したMOSデバイス中の可動イオンの異常生成を詳細に調べると共に,その改... [more] SDM2013-61
pp.87-90
ED 2013-04-19
11:35
宮城 東北大学電通研 片平北キャンパス ナノ・スピン総合研究棟4階 カンファレンスルーム Ar雰囲気下高温アニールによる6H-SiC(0001)面上高品質エピタキシャルグラフェン形成
舩窪一智猪俣州哉佐藤 良朴 君昊東北大)・小嗣真人高輝度光科学研究センター)・吹留博一末光真希東北大ED2013-15
Si代替FETチャネル材料として高移動度の新素材グラフェンが近年注目されている。しかし、現在報告されているグラフェンFE... [more] ED2013-15
pp.59-62
SDM, ED
(共催)
2013-02-28
11:20
北海道 北海道大学(百年記念会館) ジュール加熱されたグラフェンの近赤外イメージングによるその場温度測定
齋藤孝成厚母息吹須田隆太郎伊藤光樹白樫淳一東京農工大ED2012-142 SDM2012-171
我々は,その場温度観察が可能な近赤外イメージングシステムを利用して,通電下のグラフェンの発熱現象のリアルタイム観察を行っ... [more] ED2012-142 SDM2012-171
pp.77-82
MW, ED
(共催)
2013-01-18
14:55
東京 機械振興会館 SiCNゲート絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MISゲートHEMT
小林健悟吉田智洋尾辻泰一片山竜二松岡隆志末光哲也東北大ED2012-126 MW2012-156
HMDSを反応ガスとするPECVDにより堆積したSiCNゲート絶縁膜を導入したAlGaN/GaN MISゲート高電子移動... [more] ED2012-126 MW2012-156
pp.75-78
SDM 2012-12-07
10:45
京都 京都大学(桂) 4H-SiC(11-20)面上に形成したMOS界面へのリン導入による界面準位密度の低減効果
梅澤奈央矢野裕司畑山智亮冬木 隆奈良先端大SDM2012-118
これまで、POCl3アニールによりPをSiO2/4H-SiC界面に導入することで、Si面・C面ともに優れた界面準位密度の... [more] SDM2012-118
pp.19-23
ED, LQE, CPM
(共催)
2012-11-30
13:15
大阪 大阪市立大学 n-GaN表面層を有する構造内p-GaNのMgアクセプタ活性化
桑野侑香加賀 充森田隆敏山下浩司南川大智竹内哲也岩谷素顕上山 智名城大)・赤サキ 勇名城大/名大ED2012-83 CPM2012-140 LQE2012-111
p-GaNでは、Mgアクセプタと水素の結合を切断し、電気的に活性化させる熱アニールが必要である。一方、n-GaN内には原... [more] ED2012-83 CPM2012-140 LQE2012-111
pp.81-85
ED, SDM, CPM
(共催)
2012-05-17
16:45
愛知 豊橋技術科学大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー Ga2O3酸素センサの作製と評価
以西雅章山本貴弘鳥井琢磨静岡大ED2012-25 CPM2012-9 SDM2012-27
あらまし 近年、環境問題に対する関心の高まりから、排気ガスの制御に酸素ガスセンサが注目されている。酸化ガリウムは900... [more] ED2012-25 CPM2012-9 SDM2012-27
pp.39-42
OME, IEE-DEI
(連催)
2012-01-20
15:25
愛知 名古屋大学 ジュール熱を利用したアニール法による有機薄膜太陽電池の最適化
内藤憲樹森 竜雄名大OME2011-77
P3HTとPCBMを用いた素子では変換効率を上げるために、アニールが必要である。一般的には、基板はアニールにはホットプレ... [more] OME2011-77
pp.45-49
SDM 2011-12-16
10:40
奈良 奈良先端科学技術大学院大学 SiO2/p型4H-SiC界面特性におけるPOCl3アニールの効果
高上稔充矢野裕司畑山智亮冬木 隆奈良先端大SDM2011-134
MOSデバイス特性を左右する界面準位に対し、我々はこれまでにPOCl3アニールによりリンを界面に導入することで、SiO2... [more] SDM2011-134
pp.11-15
OPE 2011-12-16
13:55
東京 機械振興会館 スパッタリング法による希土類ドープTa2O5薄膜の作製とその発光特性の評価
三浦健太・○新井勇輝花泉 修群馬大OPE2011-143
スパッタリング法によりEuドープTa2O5薄膜を成膜し,アニール後,波長600nm, 620nm, 650nm及び700... [more] OPE2011-143
pp.13-16
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