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研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
DC	2019-02-27 09:50	東京	機械振興会館	キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2018-73	初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために，低消費電力を志向したドントケ判... [more]	DC2018-73 pp.13-18
DC	2019-02-27 13:40	東京	機械振興会館	コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法 ○吉村正義（京都産大）・竹内勇希・山崎紘史・細川利典（日大） DC2018-78	近年，VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し，遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である．しかし，回路... [more]	DC2018-78 pp.43-48
DC	2019-02-27 14:30	東京	機械振興会館	コントローラのテスト活性化用状態圧縮法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典・山崎紘史（日大） DC2018-80	VLSIのテストにおける課題の一つとして，テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる．その課題を解決... [more]	DC2018-80 pp.55-60
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細]	2018-12-06 10:55	広島	サテライトキャンパスひろしま	ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について ○越智小百合・三澤健一郎・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2018-51 DC2018-37	実速度スキャンテストにおいて，過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし，誤テストにより歩留り損失が発生する．キ... [more]	VLD2018-51 DC2018-37 pp.89-94
DC	2018-02-20 09:55	東京	機械振興会館	コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法 ○竹内勇希・武田　俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2017-78	VLSIのテストコストを削減するためには，テストパターン数を削減することが必要である．特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more]	DC2017-78 pp.7-12
DC	2018-02-20 11:40	東京	機械振興会館	kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81	半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more]	DC2017-81 pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細]	2017-11-06 15:20	熊本	くまもと県民交流館パレア	コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法 ○武田　俊・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2017-37 DC2017-43	近年, VLSIのテストコスト増大に伴い，DFT設計を用いたテストパターン数削減手法が重要視されている．特に， VLSI... [more]	VLD2017-37 DC2017-43 pp.61-66
DC	2017-02-21 10:30	東京	機械振興会館	キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） DC2016-74	実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more]	DC2016-74 pp.1-6
DC	2017-02-21 14:25	東京	機械振興会館	到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 ○二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2016-79	スキャン設計回路は，ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている．上述の課題を解決するために... [more]	DC2016-79 pp.29-34
DC	2017-02-21 15:05	東京	機械振興会館	拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2016-80	[more]	DC2016-80 pp.35-40
DC	2016-06-20 15:15	東京	機械振興会館	テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 ○佐藤　護・細川利典・増田哲也・西間木　淳（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2016-14	データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more]	DC2016-14 pp.25-30
DC	2016-02-17 14:00	東京	機械振興会館	故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 ○高野秀之・細川利典・山崎紘史（日大）・山崎浩二（明大） DC2015-91	[more]	DC2015-91 pp.31-36
DC	2016-02-17 14:50	東京	機械振興会館	テストパターン数削減のためのRTLテストポイント挿入法 ○大崎直也・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2015-93	VLSIのテストコスト削減のため，テストポイント挿入を用いたテストパターン数削減法が提案されている．ゲートレベルにおける... [more]	DC2015-93 pp.43-48
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2015-12-03 13:45	長崎	長崎県勤労福祉会館	静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム ○原　侑也・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2015-69 DC2015-65	[more]	VLD2015-69 DC2015-65 pp.207-212
DC	2015-06-16 14:10	東京	機械振興会館地下3階2号室	BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法 ○錦織　誠・山崎紘史・細川利典・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大） DC2015-16	LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと決定的テスト生成を組... [more]	DC2015-16 pp.1-6
DC	2015-02-13 11:30	東京	機械振興会館	信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法 ○坊屋鋪知拓・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2014-81	[more]	DC2014-81 pp.19-24
DC	2015-02-13 11:55	東京	機械振興会館	スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法 ○吉村正義（京都産大）・西間木　淳・細川利典（日大） DC2014-82	[more]	DC2014-82 pp.25-30
DC	2015-02-13 14:55	東京	機械振興会館	階層テスト容易化高位合成におけるスケジューリングの一手法 ○西間木　淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-84	著者らは先に，コントロールデータフローグラフを利用した階層テストにおいて，階層テスト可能演算器数を増加させるための階層テ... [more]	DC2014-84 pp.37-42
DC	2015-02-13 16:00	東京	機械振興会館	マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 ○高野秀之・山崎紘史・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2014-86	スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている．しかしながら，マルチサイ... [more]	DC2014-86 pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2014-11-28 09:40	大分	ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター）	キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法 ○平井淳士・細川利典・山内ゆかり・新井雅之（日大） VLD2014-98 DC2014-52	実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more]	VLD2014-98 DC2014-52 pp.179-184

著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

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