| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2013-12-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 定在波同軸管法を用いた非共振試料のPIM測定における測定偏差低減に関する実験的検討 ○森田久美子・久我宣裕（横浜国大）  EMD2013-132 |
本稿では,低PIM試料の評価に有効な定在波同軸管法(SWCTM)を用いて,非共振試料のPIM測定における測定偏差の低減に... [more] | EMD2013-132 pp.7-10 |
| EMD | 2013-10-18 14:20 |
神奈川 | NTT厚木研究開発センタ | 同軸管を用いたプリント基板のPIM測定における誘電体層の影響に関する実験的考察 ○森田久美子・久我宣裕（横浜国大） |
[more] | |
| AP | 2013-06-14 10:45 |
東京 | 機械振興会館 | 鉄細線をPIM源とする単一ノッチ型PIM発生器 ○森田久美子・高田耕平・久我宣裕（横浜国大） AP2013-43 |
鉄細線をPIM源として用いた単一ノッチ型PIM発生器を提案した. 円環の片側のみにスリットを装荷したモデルを採用するこ... [more] |
AP2013-43 pp.49-52 |
| SIP, RCS (共催) |
2013-01-31 09:55 |
広島 | ビューポートくれ（呉） | 3次元モデルのマッチングにおける回転にロバストな正規化手法の検討 ○大塚和喜・市毛弘一（横浜国大） SIP2012-81 RCS2012-238 |
本稿では，立面図を用いた3 次元モデルの類似形状探索問題において，局所的に主成分分析を適用した正規化手法を用いた探索アル... [more] | SIP2012-81 RCS2012-238 pp.1-6 |
| SIP, RCS (共催) |
2013-01-31 14:45 |
広島 | ビューポートくれ（呉） | ルートIIRナイキストフィルタの設計とそのディジタル通信における評価 ○一岡 渉・市毛弘一（横浜国大） SIP2012-86 RCS2012-243 |
[more] | SIP2012-86 RCS2012-243 pp.31-36 |
| PN, EMT, LQE, OPE, MWP, EST (共催) IEE-EMT (連催) [詳細] |
2013-01-25 14:15 |
大阪 | 大阪大学吹田キャンパス | 長さ100μm以下のSiフォトニック結晶光変調器 ○グェン ホン チュエン・橋本智志・新川瑞季・馬場俊彦（横浜国大） PN2012-63 OPE2012-172 LQE2012-164 EST2012-99 MWP2012-81 |
[more] | PN2012-63 OPE2012-172 LQE2012-164 EST2012-99 MWP2012-81 pp.227-230 |
| EMD | 2012-12-21 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | 定在波同軸管法を用いた同軸線路の非接触PIM測定に関する基礎検討 ○王 明・石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMD2012-96 |
本報告では，定在波同軸管法において，同軸構造の導体試料の内導体で生じる受動相互変調ひずみ（PIM）測定の感度を，内導体お... [more] | EMD2012-96 pp.33-36 |
| ISEC | 2012-12-12 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | DPA Contest v3で用いたYNUの消費電力波形取得技術 松本 勉・岸川 剛・大野 仁・齋藤翔平・土屋 遊（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・○遠山 毅（横浜国大） ISEC2012-76 |
[more] | ISEC2012-76 pp.29-36 |
| ISEC | 2012-09-21 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | パイロットランプはサイドチャネルとして使える ○齋藤翔平・松本 勉（横浜国大） ISEC2012-54 |
暗号ハードウェアから，その本来の出力信号ではない消費電力や漏洩電磁波などの物理量を測定し，その値を処理してハードウェア内... [more] | ISEC2012-54 pp.51-58 |
| ISEC | 2012-09-21 17:05 |
東京 | 機械振興会館 | サイドチャネルセキュリティを厳しく評価する効率のよい方法 ○岸川 剛・齋藤翔平・土屋 遊・遠山 毅・松本 勉（横浜国大） ISEC2012-56 |
暗号モジュールから漏れ出る物理情報を処理して内部の秘密情報を推定するサイドチャネル攻撃に対する暗号モジュールの耐性を効率... [more] | ISEC2012-56 pp.67-74 |
| EMD, CPM, OME (共催) |
2012-06-22 17:00 |
東京 | 機械振興会館 | プリント基板から発生する相互変調ひずみ測定の高感度化 ○齋藤健介・石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMD2012-14 CPM2012-31 OME2012-38 |
[more] | EMD2012-14 CPM2012-31 OME2012-38 pp.35-39 |
| AP | 2012-06-14 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 2面合成型オムニ指向性アンテナの指向性帯域改善 ○和田隆寛・石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） AP2012-26 |
本報告では矩形導体管広壁面上に設置された無給電素子付きパッチアンテナを2 組用いたオムニディレクショナルアンテナについ... [more] |
AP2012-26 pp.13-18 |
| AP, ITE-BCT (連催) |
2012-02-10 10:20 |
広島 | NHK広島 | アンテナのPIM測定における外部IM源の影響に関する実験的考察 ○高田耕平・久我宣裕（横浜国大）・長 敬三（NTTドコモ） AP2011-193 |
ダイオードをIM 源として装荷したプリントダイポールアンテナを提案し，給電線路にセミリジット線路を用いることで，プリント... [more] | AP2011-193 pp.79-84 |
| EMD | 2012-01-20 14:50 |
神奈川 | レンタルホール湘南平塚 | 定在波同軸管を用いたプリント基板の非接触PIM特性評価 ○星野啓太・石橋大二郎・齋藤健介・久我宣裕（横浜国大） EMD2011-115 |
本研究では，低PIM試料の評価に有効な定在波同軸管法を用いて，プリント基板の非接触PIM特性評価を行っている． まず評... [more] |
EMD2011-115 pp.19-24 |
| AP | 2012-01-20 16:30 |
福岡 | 九州工業大学 | リッジ導波管リッジ面上に構成されたT型スロットアンテナ ○三原誠太郎・久我宣裕（横浜国大） AP2011-184 |
誘電体を用いずに直線偏波の広壁面導波管スロットアンテナを小型化するために，リッジ導波管リッジ面に構成するT型スロットアン... [more] | AP2011-184 pp.215-220 |
| ACT (第二種研究会) |
2011-12-22 15:30 |
沖縄 | 沖縄県立博物館・美術館 | アンテナシステムにおける相互変調ひずみ測定 ○久我宣裕（横浜国大） |
[more] | |
| EMD | 2011-12-16 14:30 |
東京 | 日本工業大学 神田キャンパス | 同軸管を用いた相互変調ひずみ測定に対する送信波整合状態の影響評価 ○齋藤健介・星野啓太・久我宣裕・石橋大二郎（横浜国大） EMD2011-109 |
本稿では，定在波同軸管を用いた高周波材料の相互変調ひずみ特性評価法について，送信波の整合状態と測定結果の関連に関する考察... [more] | EMD2011-109 pp.17-22 |
| SDM | 2011-07-04 10:40 |
愛知 | 名古屋大学（ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー） | Si高指数面酸化過程のリアルタイム光電子分光による評価 ○大野真也・井上 慧・森本真弘・新江定憲・豊島弘明（横浜国大）・吉越章隆・寺岡有殿（原子力機構）・尾形祥一（横浜国大）・安田哲二（産総研）・田中正俊（横浜国大） SDM2011-54 |
面方位(113)、(120)のシリコン高指数面の初期酸化過程を光電子分光法を用いて調べた。酸化状態Sin+(n=1-4)... [more] | SDM2011-54 pp.23-27 |
| EMD | 2011-01-28 15:40 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141 |
著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] | EMD2010-141 pp.35-40 |
| EMD | 2011-01-28 16:05 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-142 |
著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] | EMD2010-142 pp.41-46 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]