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★信頼性研究会（R） 専門委員長 弓削 哲史 (防衛大) 副委員長 安里 彰 (富士通) 幹事 田村 信幸 (法政大)， 平栗 滋人 (鉄道総研) 幹事補佐 井上 真二 (関西大)， 岡村 寛之 (広島大) 日時 2017年11月16日(木) 14：00～16：45 会場 大阪中央電気倶楽部（〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25．大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分，地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか．http://www.chuodenki-club.or.jp/．柳井健太郎（オムロン（株））．06-6345-6351（会場）） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 11月16日(木) 午後 （14：00～16：45） (1) 14:00 - 14:25 湿度加速試験一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） (2) 14:25 - 14:50 結露サイクル試験を用いたAgのエレクトロケミカルマイグレーションの評価 ○仙波孝彬・石津勝之・藤澤孝文（村田製作所） (3) 14:50 - 15:15 ステップストレス試験結果に基づく加速モデルの選択 ○松岡敏成（三菱電機） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (4) 15:30 - 15:55 HALTにおけるストレスの効果 ○ピエ ラファエル・平田拓哉・河合秀己・青木雄一（エスペック） (5) 15:55 - 16:20 複合パワーサイクル試験による製品の弱点早期検出 ○石津勝之・西川弘晃（村田製作所） (6) 16:20 - 16:45 劣化データに基づくベイズ信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆日本信頼性学会関西支部，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月15日(金) 機械振興会館 [10月16日(月)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2018年2月16日(金) 住友電装株式会社 [12月15日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 【問合先】 岡村 寛之（広島大） E-mail:     l     -u Last modified: 2017-09-20 16:29:46 |
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