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★信頼性研究会（R） 専門委員長 渡邉 均 (東京理科大) 副委員長 木村 光宏 (法政大) 幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (防衛大) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大) 日時 2011年10月21日(金) 13：30～16：20 会場 九州大学箱崎キャンパス 21世紀交流プラザI 講義室A（〒812-8581 福岡市東区箱崎6-10-1．http://www.kyushu-u.ac.jp/access/index.php．工学研究院 化学工学部門 柘植義文） 議題 信頼性一般 10月21日(金) 午後 （13：30～16：20） (1) 13:30 - 13:55 異常検知のためのデータベースモデルを用いた正常状態予測法の予測精度の事前評価 ○田中耕平・藤原朱実・木村直樹・柘植義文（九大） (2) 13:55 - 14:20 過去事例を用いた石油化学プラントにおける保温材下での外面腐食速度の推算 ～ 推算値の信頼性 ～ ○八尋健太郎・文 星恵・立野繁之（早大）・松山久義（九大）・大島榮次（東大） (3) 14:20 - 14:45 Modeling and Optimization of Replacement Last in Reliability ○Xufeng Zhao（Aichi Inst. of Tech.）・Syouji Nakamura（Kinjo Gakuin Univ.）・Toshio Nakagawa（Aichi Inst. of Tech.） −−− 休憩 （ 20分 ） −−− (4) 15:05 - 15:30 複数回のチェンジポイントを考慮したソフトウェア信頼性評価に関する一考察 ○井上真二・山田 茂（鳥取大） (5) 15:30 - 15:55 組込みOSS移植工程に対する要求仕様の変更を考慮したハザードレートモデルに関する一考察 ○田村慶信（山口大）・山田 茂（鳥取大） (6) 15:55 - 16:20 On The Extended Cumulative Exposure Model, ECEM ○Hideo Hirose・Takenori Sakumura（Kyushu Inst. of Tech.） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 11月18日(金) 中央電気倶楽部（大阪市） [9月18日(日)] テーマ：電子デバイスの信頼性，信頼性一般 12月16日(金) 機械振興会館 [10月17日(月)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 【問合先】 田村信幸（防衛大学校） TEL 046-841-3810 (Ext.3332) FAX 046-844-5903 Email:     n  Last modified: 2011-10-14 18:57:23 |
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