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★信頼性研究会（R） 専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT) 副委員長 弓削 哲史 (防衛大) 幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) 幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大) 日時 2015年12月18日(金) 13：30～15：20 会場 機械振興会館（〒東京都港区芝公園3-5-8 東京都港区芝公園3-5-8．東京メトロ日比谷線・・・・・・・神谷町駅下車 徒歩8分 ほか．http://www.jspmi.or.jp/kaigishitsu/access.html） 議題 信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 12月18日(金) 午後 （13：30～15：20） (1) 13:30 - 13:55 A validation study of threshold methods in wavelet shrinkage estimation ○Xiao Xiao（Tokyo Metropolitan Univ.） (2) 13:55 - 14:20 故障率関数に基づいたトレンド再生過程のノンパラメトリック最尤推定法 齋藤靖洋・○土肥 正（広島大） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (3) 14:30 - 14:55 A Note on Optimal Allocation of Testing-Resources with Halstead Software Metrics ○Hiroyuki Okamura・Min Gong・Tadashi Dohi（Hiroshima Univ.） (4) 14:55 - 15:20 ディペンダビリティに関する国際標準化の動向 ～ IEC TC56の概要と国際会議での動向（WG2を中心に） ～ ○原田文明（富士ゼロックスアドバンストテクノロジー）・木下佳樹・武山 誠（神奈川大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2016年2月19日(金) あざれあ(静岡市) [12月11日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛：日本信頼性学会） 【問合先】 岡村 寛之（広島大） E-mail:     l     -u Last modified: 2015-10-22 10:41:38 |
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