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★次世代無線設備試験認証技術研究会（ACT） 専門委員長 笹岡 秀一 (同志社大) 副委員長 新井 宏之 (横浜国大) 幹事 石井 望 (新潟大)， 松本 泰 (NICT) 日時 2010年 2月24日(水) 13：30～17：00 会場 （独）情報通信研究機構（NICT）小金井本部本館4階 TV会議室（〒184-8795 東京都小金井市貫井北町4-2-1．JR国分寺駅からバス10分（情報通信研究機構前下車）．http://www.nict.go.jp/about/hq.html） 議題 無線機器測定技術一般 2月24日(水) 午後 （13：30～17：00） −−− 委員長挨拶 （ 5分 ） −−− (1) 13:35 - 14:05 軽量人体ファントムを用いた簡易SAR測定法 ○渡部 旦・道下尚文・山田吉英（防衛大） (2) 14:05 - 14:35 リアルタイムアナライザを用いた雑音端子電圧測定 ○原本欽朗・小林丈士・西野義典・五十嵐美穂子（都立産技研センター） (3) 14:35 - 15:05 V/UHF帯測定用アンテナの較正法に関するCISPR規格化 ○杉浦 行（NICT） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (4) 15:15 - 15:45 一般化螺旋点法による全放射電力測定 ○吉田真由美・新井宏之（横浜国大） (5) 15:45 - 16:15 FFT型多周波APD測定装置の開発と応用 ○後藤 薫・松本 泰（NICT） (6) 16:15 - 17:00 NICT施設見学 一般講演：発表 25 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◎参加費（資料代） 1,000円（当日会場でお支払い下さい） ◎参加方法 参加を希望する方は，当日，直接，会場受付にお越し下さい．なお，NICTに入館する際，守衛の方にACT研に参加する旨をお伝え下さい． ☆ACT研究会 【問合先】 E-mail:  t-    ◎最新情報は，ACT研究会ホームページを御覧下さい． http://www.ieice.org/~act/ ◎研究会に引き続きNICTの施設見学を行いますので，あわせてご参加下さい． Last modified: 2009-12-15 23:03:22 |
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