| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催プログラム |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップ | 戻る | 前のED研究会 / 次のED研究会 | [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT] | [Japanese] / [English] |
|
★電子デバイス研究会（ED） 専門委員長 葛原 正明 (福井大) 副委員長 橋詰 保 (北大) 幹事 高谷 信一郎 (日立)， 新井 学 (新日本無線) 幹事補佐 原 直紀 (富士通研)， 村田 浩一 (NTT) ★信頼性研究会（R） 専門委員長 柳 繁 (防衛大) 副委員長 若井 一顕 (NHK) 幹事 弓削 哲史 (防衛大)， 木村 光宏 (法政大) 幹事補佐 海生 直人 (広島修道大)， 馬渡 宏泰 (NTT) ★シリコン材料・デバイス研究会（SDM） 専門委員長 浅野 種正 (九大) 副委員長 杉井 寿博 (富士通) 幹事 川中 繁 (東芝)， 安斎 久浩 (ソニー) 幹事補佐 大見 俊一郎 (東工大) 日時 2007年11月16日(金) 13：00～16：35 会場 （社）中央電気倶楽部（大阪市北区堂島浜2-1-25．大阪駅より徒歩12分，JR北新地駅より徒歩6分．http://www.chuodenki-club.or.jp/map/annai.html．06-6345-6351） 議題 半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性 11月16日(金) 午後 （13：00～16：35） (1) 13:00 - 13:25 イットリウムアルミネート(YAlO)薄膜の電気的特性評価 ○松之内恵子・小松直佳・木村千春・青木秀充・杉野 隆（阪大） (2) 13:25 - 13:50 フッ化水素と有機溶媒の混合液を用いた積層メタルゲートのガルバニックコロージョン抑制 ○渡邊大祐・青木秀充・堀田沙織・木村千春・杉野 隆（阪大） (3) 13:50 - 14:15 高温高圧水中でのSiCおよびGaN表面の酸化処理 ○二ツ木高志（阪大/オルガノ）・大江太郎（オルガノ）・青木秀充・小松直佳・木村千春・杉野 隆（阪大） (4) 14:15 - 14:40 多重台形型チャネルを持つAlGaN/GaN HEMTの高温での電流安定性 ○田村隆博・小谷淳二・大井幸多・橋詰 保（北大） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (5) 14:55 - 15:20 AlGaN/GaN HEMTのDCストレスによる信頼性評価 ○松下景一・寺本信一郎・桜井博幸・沈 正七・川崎久夫・高木一考・高田賢治・津田邦男（東芝） (6) 15:20 - 15:45 高信頼GaN-HEMT開発のための劣化モード解析 ○井上雄介・増田 哲・金村雅仁・多木俊裕・牧山剛三・岡本直哉・今西健治・吉川俊英・原 直紀・重松寿生・常信和清（富士通研） (7) 15:45 - 16:10 AlGaN/GaN HEMT量産のためのリーク電流による選別 ○八巻史一・石井和明・西 眞弘・生松 均・舘野泰範・川田春雄（ユーディナデバイス） (8) 16:10 - 16:35 Cuイオンドリフトに起因したCu配線間TDDB劣化モデル ○鈴村直仁・山本茂久・真壁一也・小笠原 誠・小守純子・村上英一（ルネサステクノロジ） 一般講演（25）：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ☆ED研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 11月27日(火)～28日(水) 東北大学 電気通信研究所 [9月20日(木)] テーマ：ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム 2008年1月16日(水)～18日(金) 機械振興会館 [11月9日(金)] テーマ：化合物半導体ＩＣ及び超高速・超高周波デバイス 2008年1月30日(水)～31日(木) 北海道大学 [11月9日(金)] テーマ：機能ナノデバイスとおよび関連技術 【問合先】 新井 学（新日無） TEL: 049-278-1477、FAX: 049-278-1419 E-mail:   i njr 高谷 信一郎（日立中研） TEL: 0423-23-1111（内線3048）、FAX: 0423-27-7738 E-mail:    crl   村田 浩一（NTT) TEL：046-240-2871、FAX：046-270-2872 E-mail：  aecl 原 直紀 （富士通研究所） TEL : 046-250-8242、FAX : 046-250-4337 E-mail :   nf    ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月14日(金) 機械振興会館 [10月19日(金)] テーマ：信頼性国際規格,保全性,信頼性一般 2008年2月15日(金) オムロン京都センタービル啓真館 [12月10日(月)] テーマ：機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE CPMT JAPAN) 【問合先】 弓削哲史(防衛大学校) TEL 046-841-3810 FAX 046-844-5903 E-mail:  gen  ☆SDM研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月14日(金) 奈良先端科学技術大学院大学 [10月12日(金)] テーマ：シリコン関連材料の作製と評価 2008年1月24日(木) 機械振興会館 [未定] テーマ：IEDM特集（先端CMOSデバイス・プロセス技術） 2008年1月30日(水)～31日(木) 北海道大学 [11月9日(金)] テーマ：機能ナノデバイスとおよび関連技術 2008年2月8日(金) 機械振興会館 [未定] テーマ：配線・実装技術と関連材料技術 【問合先】 西岡泰城（日本大学理工学部 精密機械工学科） TEL047-469-6482,FAX047-467-9504 E-mail:   e  t n-u,a  cmsk Last modified: 2007-09-25 11:35:28 |
ご注意： 迷惑メール対策のためメールアドレスの一部の文字を置換しております．ご了承ください．
[この開催に関する講演論文リストをダウンロードする] ※ こちらのページの最下にあるダウンロードボタンを押してください
[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
[研究会発表・参加方法，FAQ] ※ ご一読ください
[R研究会のスケジュールに戻る] / [ED研究会のスケジュールに戻る] / [SDM研究会のスケジュールに戻る] /
| トップ | 戻る | 前のED研究会 / 次のED研究会 | [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT] | [Japanese] / [English] |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]