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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 渡邉 均 (東京理科大) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2010年12月17日(金) 13：00～15：10 会場 機械振興会館（港区芝公園３－５－８．東京メトロ日比谷線：神谷町駅下車徒歩１０分，JR：浜松町駅下車徒歩２０分，都営地下鉄三田線：御成門駅・大江戸線：赤羽橋駅下車徒歩１０分．http://www.jcmanet.or.jp/gaiyo/map_kaikan.htm） 議題 信頼性国際規格，安全性，信頼性一般 12月17日(金) 午後 （13：00～15：10） (1) 13:00 - 13:25 Integrated Model for Software Performability Measurement Considering Random Performance Degradation and Field-oriented Restoration ○Koichi Tokuno・Shigeru Yamada（Tottori Univ.） (2) 13:25 - 13:50 順序列集合を考慮した分離積和法に関する考察 ○米田泰司郎・弓削哲史・田村信幸・柳 繁（防衛大） (3) 13:50 - 14:15 観測期間が限定された故障データに基づく寿命推定法 ○徐 冬ア・鈴木和幸（電通大） −−− 休憩 （ 5分 ） −−− (4) 14:20 - 14:45 単体テストデータを用いたソフトウェア信頼性評価に関する一考察 ○岡村寛之・土肥 正（広島大） (5) 14:45 - 15:10 ソフトウェアテストにおける残存フォールト数の推定 ～ パラメトリックブートストラップ法 ～ 金石俊雄・○土肥 正（広島大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2011年2月18日(金) 静岡大学（浜松キャンパス） [12月14日(火)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2010-10-22 12:18:05 |
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