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★信頼性研究会（R） 専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT) 副委員長 弓削 哲史 (防衛大) 幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) 幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大) 日時 2016年 6月17日(金) 13：30～15：15 会場 機械振興会館（東京都港区芝公園3-5-8 東京都港区芝公園3-5-8．東京メトロ日比谷線・・・・・・・神谷町駅下車 徒歩8分 ほか．http://www.jspmi.or.jp/kaigishitsu/access.html） 議題 電子・電気機器の信頼性，故障解析，信頼性一般 6月17日(金) 午後 （13：30～15：15） (1) 13:30 - 13:55 Cox回帰ソフトウェア信頼性モデルのパラメータ推定に関する一考察 ○岡村寛之・伊藤彰秀・土肥 正（広島大） (2) 13:55 - 14:20 Replacement-Opportunity Correlated Failure Models ○Tadashi Dohi・Hiroyuki Okamura（Hiroshima Univ.） −−− 休憩 （ 5分 ） −−− (3) 14:25 - 14:50 不完全な修理を伴う部分観測可能なマルコフ的劣化システムにおける最適保全方策の構造的性質 ○田村信幸（法政大） (4) 14:50 - 15:15 無電解ニッケルめっきの製造条件による皮膜形態とその硬化挙動 ○水内理映子・久里裕二・小谷和也（東芝） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 7月29日(金) 小樽経済センター（4階Aホール） [5月16日(月)] テーマ：信頼性理論，通信ネットワークの信頼性，信頼性一般 8月25日(木)～26日(金) (予定) 函館ロワジールホテル [6月16日(木)] テーマ：光部品・電子デバイス実装・信頼性，及び一般（OECC報告） 【問合先】 岡村 寛之（広島大） E-mail:     l     -u Last modified: 2016-04-19 16:56:37 |
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