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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 柳 繁 (防衛大)
副委員長 若井 一顕 (第一工大)
幹事 弓削 哲史 (防衛大)， 木村 光宏 (法政大)
幹事補佐 海生 直人 (広島修道大)， 馬渡 宏泰 (NTT)

日時 2008年11月14日(金)　14:00 - 16:20
議題 電子デバイスの信頼性, 信頼性一般 
会場名 （社）中央電気倶楽部 
住所 大阪市北区堂島浜2-1-25
交通案内 大阪駅より徒歩12分，JR北新地駅より徒歩6分
http://www.chuodenki-club.or.jp/map/annai.html
会場世話人
連絡先		 06-6345-6351
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催；日本信頼性学会協賛

11月14日(金) 午後 
14:00 - 16:20
(1) 14:00-14:25 六価クロム検出加速試験の一考察 ○柳井健太郎・安井　徹・岸本典也（オムロン）・伊藤貞則（イトケン事務所）
(2) 14:25-14:50 半導体デバイスのデバイス帯電系ESD試験方法の検討 ○片岡資晴・三口宗彦・中野真治・和田哲明（パナソニック）
(3) 14:50-15:15 製品安全のための解析技法について 和田　浩（関西経営管理協会）
  15:15-15:30 休憩　（ 15分 ）
(4) 15:30-15:55 地上ディジタルテレビ放送のノイズ対策 ○生岩量久（広島市大）
(5) 15:55-16:20 A BDD-Based Approach to Reliability-Optimal Module Allocation in Networks ○Tatsuhiro Tsuchiya・Tohru Kikuno（Osaka Univ.）

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 弓削哲史(防衛大学校)
TEL 046-841-3810
FAX 046-844-5903
E--mail: gen 


Last modified: 2008-09-24 09:55:45


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