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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 木村 康則 (富士通研) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2009年11月20日(金) 13：45～16：00 会場 社団法人 中央電気倶楽部（〒530-0004 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号．ＪＲ大阪駅より徒歩１２分 ＪＲ北新地駅より徒歩６分（他，ウェブページをご覧ください）．http://www.chuodenki-club.or.jp/map/annai.html．オムロン株式会社 西本俊崇様．06-6345-6351（会場）） 議題 電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月20日(金) 午後 （13：45～16：00） (1) 13:45 - 14:10 シリコーンによる電気接点の接触信頼性 ○森井真喜人・森脇弘之（オムロン） (2) 14:10 - 14:35 ライフ・エンド評価の一考察 ～ ステップ・タイム評価 ～ ○伊藤貞則（イトケン事務所） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (3) 14:45 - 15:10 高速InP HBTにおけるエミッタ電極の長期通電での劣化現象と高耐熱金属導入による高信頼化 ○深井佳乃・栗島賢二・柏尾典秀・井田 実・山幡章司・榎木孝知（NTT） (4) 15:10 - 15:35 複数の観測を考慮した2状態POMDPモデルにおける最適保全方策 ○林 憲一・田村信幸・弓削哲史・柳 繁（防衛大） (5) 15:35 - 16:00 ソフトウェア信頼性評価のための環境係数を用いたチェンジポイントモデル ○井上真二・山田 茂（鳥取大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催，日本信頼性学会（関西支部・本部） 協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月18日(金) 機械振興会館 [10月17日(土)] テーマ：信頼性国際規格，安全性，信頼性一般 2010年2月19日(金) パナソニック「松心会館」 [12月15日(火)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN） 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2009-10-18 12:17:40 |
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