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★信頼性研究会(R)
専門委員長 海生 直人 (広島修道大)  副委員長 木村 康則 (富士通研)
幹事 木村 光宏 (法政大), 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 田村 信幸 (防衛大)

日時 2009年12月18日(金) 13:00~14:40

会場 機械振興会館(港区芝公園3-5-8.東京メトロ日比谷線:神谷町駅下車徒歩10分,JR:浜松町駅下車徒歩20分,都営地下鉄三田線:御成門駅・大江戸線:赤羽橋駅下車徒歩10分.http://www.jcmanet.or.jp/gaiyo/map_kaikan.htm)

議題 信頼性国際規格,安全性,信頼性一般

12月18日(金) 午後 (13:00~14:40)

(1) 13:00 - 13:25
Zn系めっき電気通信設備に生じる隙間部での腐食
○半田隆夫・齋藤博之・藤本憲宏(NTT)

(2) 13:25 - 13:50
コンクリート中鉄筋の水素による遅れ破壊
○半田隆夫・齋藤博之・東 康弘・中村真理子・藤本憲弘(NTT)

(3) 13:50 - 14:15
階層的に構成されるネットワークの信頼性評価に関する一検討
○鈴木亜矢子(情報セキュリティ大)・渡邉 均(東京理科大)・佐藤 直(情報セキュリティ大)・花田真樹(東京理科大)

(4) 14:15 - 14:40
ベース間補給を考慮したマルチベースシステムの保全性解析
○奥田尚樹・田村信幸・弓削哲史・柳 繁(防衛大)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆IEEE Reliability Society Japan Chapter 共催,日本信頼性学会 協賛


☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

2010年2月19日(金) パナソニック「松心会館」 [12月15日(火)] テーマ:機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN)

【問合先】
木村光宏(法政大学)
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-mail: mi


Last modified: 2009-10-19 10:49:44


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