2月16日(月) 午前 テスト生成
10:00 - 11:15 |
| (1) |
10:00-10:25 |
故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化 |
○中島佑介・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） |
| (2) |
10:25-10:50 |
スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 |
吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） |
| (3) |
10:50-11:15 |
SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 |
○秋山祐介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） |
| |
11:15-11:30 |
休憩 （ 15分 ） |
2月16日(月) 午前 高速・高信頼化設計
11:30 - 12:20 |
| (4) |
11:30-11:55 |
算盤アーキテクチャを用いた10進加算器とその剰余演算への応用 |
○飯島唯仁・魏 書剛（群馬大） |
| (5) |
11:55-12:20 |
高信頼度ボランティアコンピューティングのためのヒストリ情報を用いたスケジューリング手法 |
○藤田 諒・渡邊 寛・福士 将・堀口 進（東北大） |
| |
12:20-13:50 |
昼食 （ 90分 ） |
2月16日(月) 午後 欠陥ベーステスト
13:50 - 15:05 |
| (6) |
13:50-14:15 |
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 |
○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大） |
| (7) |
14:15-14:40 |
隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて |
○渡部哲也・高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） |
| (8) |
14:40-15:05 |
ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル |
○新井雅之・周藤明史・岩崎一彦（首都大東京）・中野勝幸・新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） |
| |
15:05-15:20 |
休憩 （ 15分 ） |
2月16日(月) 午後 スキャンテスト・テスト容易化高位合成
15:20 - 16:35 |
| (9) |
15:20-15:45 |
検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～ |
○万 玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） |
| (10) |
15:45-16:10 |
RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 |
○植本雄一・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
| (11) |
16:10-16:35 |
A Secure Scan Design Approach using Extended de Bruijn Graph |
Hideo Fujiwara・○Marie Engelene J. Obien（NAIST） |
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cit
