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★信頼性研究会(R)
専門委員長 海生 直人 (広島修道大)  副委員長 渡邉 均 (東京理科大)
幹事 木村 光宏 (法政大), 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 田村 信幸 (防衛大)

日時 2011年 5月13日(金) 13:30~17:40

会場 高知市文化プラザ「かるぽーと」9階第3学習室(〒780-8529 高知市九反田2-1.はりまや橋から徒歩5分.http://www.bunkaplaza.or.jp/access/index.html.高知工科大学 眞田 克 先生.0887-57-2118(会場・代表))

議題 LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,および信頼性一般

5月13日(金) 午後 (13:30~17:40)

(1) 13:30 - 14:10
[招待講演]レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 ~ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ~
○二川 清(阪大)・山下将嗣(理研)・松本 徹(浜松ホトニクス)・三浦克介・御堂義博・中前幸治(阪大)

(2) 14:10 - 14:35
走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察
○本田耕一郎(富士通研)・長 康雄(東北大)

(3) 14:35 - 15:00
XRDを用いたカーボンナノチューブ構造体の結晶構造解析法
○古田 寛(高知工科大)

(4) 15:00 - 15:25
酸化亜鉛薄膜トランジスタ(ZnO TFT)のバイアスストレス劣化メカニズム
○古田 守・平松孝浩・松田時宜・平尾 孝(高知工科大)・鎌田雄大・藤田静雄(京大)

−−− 休憩 ( 20分 ) −−−

(5) 15:45 - 16:25
[招待講演]レーザ励起による準静電界を用いた故障解析手法
○伊藤誠吾・滝口清昭(東大)

(6) 16:25 - 16:50
量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価
○三浦克介・野津孝行・中前幸治(阪大)

(7) 16:50 - 17:15
半導体製造工場における歩留解析システムの紹介
○姫野伸吾(東芝)

(8) 17:15 - 17:40
CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定
○岸 和敬・眞田 克(高知工科大)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

◎研究会終了後,懇親会を予定しております.


☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

6月17日(金) 機械振興会館 [4月13日(水)] テーマ:システムの信頼性・信頼性一般
7月29日(金) 根室グランドホテル(根室市) [5月19日(木)] テーマ:ソフトウェアの信頼性,信頼性一般

【問合先】
木村光宏(法政大学)
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-mail: mi


Last modified: 2011-03-24 13:53:25


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