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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 木村 康則 (富士通研) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2009年 6月19日(金) 13：00～15：20 会場 機械振興会館 （予定：地下2階1号室）（港区芝公園３－５－８．東京メトロ日比谷線：神谷町駅下車徒歩１０分，JR：浜松町駅下車徒歩２０分，都営地下鉄三田線：御成門駅・大江戸線：赤羽橋駅下車徒歩１０分．http://www.jcmanet.or.jp/gaiyo/map_kaikan.htm） 議題 システムの信頼性、信頼性一般 6月19日(金) 午後 （13：00～15：20） (1) 13:00 - 13:25 IC/LSI高信頼性化のための良品解析 ○味岡恒夫・石川純久・山田敬一（東レリサーチセンター） (2) 13:25 - 13:50 アルミ電解コンデンサの短期試験方法に関する考察 ○村上和也・安達健二（東芝） (3) 13:50 - 14:15 X線透視による新しい故障解析技術の研究 ○井原惇行・小林吉一（楠本化成） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (4) 14:30 - 14:55 電源用コネクタにおける接触不良についての原因分析 ～ メッキ厚不足による異種金属間接触形成の事例 ～ ○久永光司（NECインフロンティア） (5) 14:55 - 15:20 ソフトウェア信頼性のノンパラメトリック推定に関する考察 溝口真太郎・○土肥 正（広島大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催；日本信頼性学会 協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 7月31日(金) 藤田観光旭川ワシントンホテル [5月18日(月)] テーマ：信頼性一般 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2009-06-17 10:31:30 |
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