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| 専門委員長 |
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木村 光宏 (法政大) |
| 副委員長 |
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馬渡 宏泰 (NTT) |
| 幹事 |
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安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) |
| 幹事補佐 |
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マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大) |
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| 日時 |
2014年 6月13日(金) 13:30 - 15:35 |
| 議題 |
電子・電気機器の信頼性，故障解析，信頼性一般 |
| 会場名 |
機械振興会館 |
| 他の共催 |
◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
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6月13日(金) 午後
13:30 - 15:35 |
| (1) |
13:30-13:55 |
ガウシアンコピュラに基づく3変量ソフトウェアテスト進捗度評価モデル |
○木村光宏・上田浩太郎（法政大） |
| (2) |
13:55-14:20 |
罰則付き最尤法による位相型分布の推定に関する考察 |
○岡村寛之・土肥 正（広島大） |
| (3) |
14:20-14:45 |
SAを用いた多状態連続k-out-of-n:Fシステムの最適配置問題の解法精度向上に関する研究 |
○吉田直生・山本久志（首都大東京）・新行内康慈（十文字学園女子大）・秋葉知昭（千葉工大）・肖 霄（首都大東京） |
| (4) |
14:45-15:10 |
共通原因故障を考慮したk-out-of-nシステムの故障確率 |
○弓削哲史・柳 繁（防衛大） |
| (5) |
15:10-15:35 |
低温分解性化合物を用いた銅の接合技術 |
○堀川大介・山本敦史・久里裕二・佐々木 遥・水内理映子（東芝） |
| 講演時間 |
| 一般講演 | 発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 |
Last modified: 2014-04-16 20:46:26
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