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★信頼性研究会（R） 専門委員長 渡邉 均 (東京理科大) 副委員長 木村 光宏 (法政大) 幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大) 日時 2012年11月15日(木) 14：00～17：30 会場 中央電気倶楽部（〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号．http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html．杉谷全令．０６－６３４５－６３５１） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月15日(木) 午後 （14：00～17：30） (1) 14:00 - 14:25 ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測 ○嶋田遼平・木村光宏（法政大） (2) 14:25 - 14:50 協調知識情報を考慮したワイブル分布の階層ベイズモデルと計算推論に基づくソフトウェアの信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (3) 14:50 - 15:15 プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術 ○黒川博志（菱電化成）・松岡敏成・八木 超（三菱電機） (4) 15:15 - 15:40 MEMS薄膜の湿度による破断メカニズムと湿度試験の加速性 ○松井悦子・中尾太一・新谷淳一（オムロン） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (5) 15:50 - 16:15 チップセラミックコンデンサによる基板発火延焼の一考察 ○岩谷康次郎・柳井健太郎・真鍋里美（オムロン） (6) 16:15 - 16:40 リチウムイオン二次電池の安全性と評価試験 ○岡本 学・河合秀己・奥山 新・青木雄一（エスペック） (7) 16:40 - 17:05 焼損再現実験 池本 裕・○小松泰之（クオルテック） (8) 17:05 - 17:30 海外調達基板の評価方法の一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月14日(金) 機械振興会館 [10月17日(水)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2013年2月15日(金) 住友電装 [12月12日(水)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT JAPAN 共催） 【問合先】 田村信幸（法政大学） TEL 042-387-6262 FAX 042-387-6126 E-mail:       i Last modified: 2012-09-21 09:59:47 |
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