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★機構デバイス研究会(EMD)
専門委員長 吉田 清 (日本工大)  副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
幹事 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事補佐 服部 康弘 (住友電装)

日時 2011年 5月20日(金) 13:00~16:20

会場 東北大学 青葉山キャンパス サイバーサイエンスセンター(〒980-8578 仙台市青葉区荒巻字青葉6-3.仙台駅西口バスプール9番より宮教大行き・青葉台行き(710,713,715系統)で情報科学研究科西下車(徒歩2分)、または同じく9番より理・工学部経由青葉城址循環(719,750,757系統)で情報科学研究科前下車(徒歩3分).http://www.isc.tohoku.ac.jp/map.html.曽根秀昭.022-795-6091)

議題 一般

5月20日(金) 午後 (13:00~16:20)

−−− 開会挨拶 ( 5分 ) −−−

(1) 13:05 - 13:30
Contact Capacitance of 10-1000 Microfarads in Parallel with Contact Resistances between Closed Metal Electrodes
○Eisuke Takano(Consultant)

(2) 13:30 - 13:55
緩みを有するコネクタの高周波等価回路に関する基礎的検討
○松田和樹・林 優一・水木敬明・曽根秀昭(東北大)

(3) 13:55 - 14:20
入力バッファ型ATMスイッチにおける送出予約制御方式
○木野良祐・小原 仁(秋田大)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

(4) 14:35 - 15:00
光ファイバ出射光スポット内のスペックルパターンの回転特性に関する検討(2)
○高橋祐介・川原宗貴・長谷川 誠(千歳科技大)

(5) 15:00 - 15:25
光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討(2)
○高橋佳佑・長谷川 誠(千歳科技大)

(6) 15:25 - 15:50
電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ~ 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ~
○吉田 清(日本工大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授)・鈴木健司・渡邊勝昭・代島英樹(富士電機機器制御)

(7) 15:50 - 16:15
ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル(15) ~
○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)

−−− 閉会挨拶 ( 5分 ) −−−

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分


☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

6月30日(木) 機械振興会館 [未定] テーマ:材料デバイスサマーミーティング
7月15日(金) 機械振興会館 [5月15日(日)] テーマ:放電・EMC/一般
8月25日(木)~26日(金) 北海道大学 創成科学研究棟 5階 大会議室 [6月21日(火)] テーマ:光部品・電子デバイス実装技術、一般

【問合先】
長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-mail: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-mail: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-mail: -tsws

◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-03-22 16:09:12


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