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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 渡邉 均 (東京理科大) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2010年11月19日(金) 14：00～16：15 会場 中央電気倶楽部（大阪市）（〒５３０－０００４ 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号．JR大阪駅から徒歩１２分あるいは地下鉄四つ橋線西梅田駅から６分．http://www.chuodenki-club.or.jp/．登川一郎．06-6345-6351） 議題 電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月19日(金) 午後 （14：00～16：15） (1) 14:00 - 14:25 はんだ接続点におけるエレクトロマイグレーションによる劣化評価 ○樋口晃裕・平岡一則（サレジオ高専） (2) 14:25 - 14:50 急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討 ○青木雄一・岡本 学（エスペック）・増田 淳・土井卓也（産総研） (3) 14:50 - 15:15 封止接着剤の透湿性低減によるリレー封止信頼性の改良 ○福原智博・伊藤満雄・大谷 修（オムロン） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (4) 15:25 - 15:50 ブートストラップを活用したテスト工程におけるソフトウェア信頼性評価手法 ○藤原隆次（ビジネスキューブ・アンド・パートナーズ）・木村光宏（法政大） (5) 15:50 - 16:15 確率過程モデルに基づく劣化データの信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月17日(金) 機械振興会館 [10月21日(木)] テーマ：信頼性国際規格，安全性，信頼性一般 2011年2月18日(金) 静岡大学（浜松キャンパス） [12月14日(火)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2010-09-24 15:51:19 |
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