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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 渡邉 均 (東京理科大)
副委員長 木村 光宏 (法政大)
幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (防衛大)
幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大)

機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 吉田 清 (日本工大)
副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)， 関川 純哉 (静岡大)
幹事 久我 宣裕 (横浜国大)， 服部 康弘 (住友電装)
幹事補佐 阿部 宜輝 (NTT)

日時 2012年 2月17日(金)　10:30 - 16:00
議題 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，協賛：IEEE CPMT JAPAN) 
会場名 オムロンラーニングセンター 
住所 〒600-8530 京都市下京区塩小路通堀川東入
交通案内 http://maps.google.co.jp/maps?q=34.986922%2C135.753921&hl=ja&prmd=ivns&prmdo=1&um=1&ie=UTF-8&sa=N&tab=pl
会場世話人
連絡先		 オムロン株式会社 高見幸二
075-334-6081（会場）
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

2月17日(金) 午前 
10:30 - 16:00
  10:30-10:35 開会挨拶　（ 5分 ）
(1) 10:35-11:00 ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善 ○達野陽介・大谷　修・福原智博（オムロン）
(2) 11:00-11:25 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 ○長谷川　誠・小林菜々絵（千歳科技大）・河野良行・安藤　寛（カネカ）
(3) 11:25-11:50 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討 ○高橋佳佑・長谷川　誠（千歳科技大）
  11:50-12:50 休憩　（ 60分 ）
(4) 12:50-13:15 Si片持ち梁の貼り付き現象に与えるプロセス最終処理の影響 ○加藤一郎・加藤真耶（JAXA）
(5) 13:15-13:40 中波自動整合回路の制御方式による信頼性評価 ○若井一顕（第一工大）
(6) 13:40-14:05 レールと車輪の電気的接触抵抗に関する研究 ○福田光芳・伴　巧・前橋栄一・寺田夏樹・藤田浩由・遠山　喬・大和田厚祐・畑田芳隆（鉄道総研）
(7) 14:05-14:30 Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2) ○伊藤貞則（イトケン事務所）・鈴木雅史（オムロン）・谷口富雄（上田鍍金）
  14:30-14:40 休憩　（ 10分 ）
(8) 14:40-15:05 摺動の接触荷重－接触抵抗特性への影響 ○笹山昇吾（三重大）・齋藤　寧（オートネットワーク技研）・玉井輝雄（エルコンテック）・飯田和生（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）
(9) 15:05-15:30 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響 ○安田純平・飯田和生（三重大）・齋藤　寧（オートネットワーク技研）・澤田　滋（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）
(10) 15:30-15:55 接点形状と電気的耐久性の相関について ○竹内史典・高見幸二・森　哲也（オムロン）
  15:55-16:00 閉会挨拶　（ 5分 ）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 木村光宏（法政大学）
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E--mail: mi 
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠（千歳科学技術大学）
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E--mail: pn
関川 純哉（静岡大学）
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
服部 康弘（住友電装）
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E--mail: -tsws 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-12-14 17:15:12


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