3月1日(火) 午前 スタンダードセル設計・ソフトウェアテスト
09:30 - 10:45 |
| (1) |
09:30-09:55 |
スタンダードセル設計を用いた逐次比較型ADCの自動設計 |
○平野皓士・小松 聡（東京電機大） |
| (2) |
09:55-10:20 |
スタンダードセル設計によるADCのマルチプロセス自動生成 |
○福島拓実・小松 聡（東京電機大） |
| (3) |
10:20-10:45 |
コンセンサスアルゴリズムに対するラウンドモデルに基づいた簡易的なテスト・検証手法の提案 |
○土屋達弘（阪大） |
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10:45-10:55 |
休憩 （ 10分 ） |
3月1日(火) 午前 ばらつき・回路評価
10:55 - 11:45 |
| (4) |
10:55-11:20 |
オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について |
○加藤隆明（九工大）・三宅庸資（プリバテック）・梶原誠司（九工大） |
| (5) |
11:20-11:45 |
遅延検査容易化回路のPUFへの適用可能性評価 |
○大濱瑛祐・知野遥香・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） |
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11:45-12:55 |
休憩 （ 70分 ） |
3月1日(火) 午後 フォールトトレランス・セキュリティ
12:55 - 14:10 |
| (6) |
12:55-13:20 |
フェールオペレーショナルシステムのための三重系に基づく近似訂正機構について |
○芦田満喜・井上智生・市原英行（広島市大） |
| (7) |
13:20-13:45 |
近似演算回路を用いた耐故障設計における遅延故障用テストパターン生成について |
○牧野紘史・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） |
| (8) |
13:45-14:10 |
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法 |
○野口葉平・吉村正義（京都産大）・辻川敦也・細川利典（日大） |
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14:10-14:20 |
休憩 （ 10分 ） |
3月1日(火) 午後 テスト容易化設計・テスト
14:20 - 15:35 |
| (9) |
14:20-14:45 |
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 |
○星野 龍・宇都宮大喜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） |
| (10) |
14:45-15:10 |
SATを用いた遅延故障BIST向けLFSRシード生成法 |
○岩本岬汰郎・大竹哲史（大分大） |
| (11) |
15:10-15:35 |
無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法 |
○飯塚恭平・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） |
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15:35-15:45 |
休憩 （ 10分 ） |
3月1日(火) 午後 ANN・故障診断／解析
15:45 - 17:00 |
| (12) |
15:45-16:10 |
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価 |
○土渕航平・徐 浩豊・千田裕弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） |
| (13) |
16:10-16:35 |
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法 |
○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・新井雅之・山内ゆかり（日大） |
| (14) |
16:35-17:00 |
CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察 |
藤田 樹（都立大）・○新井雅之・松田忠勝（日大）・永村美一・福本 聡（都立大） |
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