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★信頼性研究会（R） 専門委員長 渡邉 均 (東京理科大) 副委員長 木村 光宏 (法政大) 幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大) 日時 2012年12月14日(金) 10：00～11：40 会場 機械振興会館（〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8．営団地下鉄日比谷線神谷町駅下車徒歩１０分 他．https://www.ieice.org/jpn/about/syozai.html．田村信幸．042-387-6262） 議題 信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 12月14日(金) 午前 （10：00～11：40） (1) 10:00 - 10:25 多目的ネットワーク設計問題におけるパレート解探索アルゴリズムに関する研究 ○高橋奈津美（首都大東京）・秋葉知昭（千葉工大）・山本久志（首都大東京） (2) 10:25 - 10:50 有限な運用期間をもつ並列システムの定期点検方策 ○水谷聡志（愛知工科大）・中川覃夫（愛知工大） (3) 10:50 - 11:15 テスト位置情報を考慮したソフトウェア信頼性評価手法に関する一考察 ○岡村寛之・竹腰祐輝・土肥 正（広島大） (4) 11:15 - 11:40 ディペンダビリティに関する国際標準化の動向 ～ IEC TC56の概要と仏PAU会議での動向 ～ ○原田文明（富士ゼロックスアドバンストテクノロジー）・後藤博之（富士通）・高村博紀（JST）・木下佳樹・武山 誠（産総研） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2013年2月15日(金) 住友電装 [12月12日(水)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT JAPAN 共催） 【問合先】 田村信幸（法政大学） TEL 042-387-6262 FAX 042-387-6126 E-mail:       i Last modified: 2012-10-22 14:40:25 |
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