Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2018-71
クリティカルエリアを考慮した2パターンテスト生成における故障選択に関する一考察
内山直也・○新井雅之（日大）
pp. 1 - 5
DC2018-72
Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection
○Michihiro Shintani（NAIST）・Kouichi Kumaki（Renesas Electronics Corporation）・Michiko Inoue（NAIST）
pp. 7 - 12
DC2018-73
キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）
pp. 13 - 18
DC2018-74
LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
○河野雄大・宮瀬紘平（九工大）・呂 學坤（台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）
pp. 19 - 24
DC2018-75
製造検査時における組込み自己テスト回路を利用した効率的なPUF回路のチャレンジレスポンス対の生成と評価
○三野智貴・新谷道広・井上美智子（奈良先端大）
pp. 25 - 30
DC2018-76
期待署名自己生成に基づく組込み自己診断機構
○平本悠翔郎・大竹哲史（大分大）・高橋 寛（愛媛大）
pp. 31 - 36
DC2018-77
An Efficient Approach to Recycled FPGA Detection Using WID Variation Modeling
○Foisal Ahmed・Michihiro Shintani・Michiko Inoue（NAIST）
pp. 37 - 42
DC2018-78
コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
○吉村正義（京都産大）・竹内勇希・山崎紘史・細川利典（日大）
pp. 43 - 48
DC2018-79
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
○青野智己・Hanan T.Al-Awadhi・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス）
pp. 49 - 54
DC2018-80
コントローラのテスト活性化用状態圧縮法
○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典・山崎紘史（日大）
pp. 55 - 60
DC2018-81
耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化
○前田有希・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大）
pp. 61 - 66
DC2018-82
電源ノイズの影響を考慮したフリップフロップの耐性改善
○木下湧矢・三浦幸也（首都大東京）
pp. 67 - 72
DC2018-83
連続時間マルコフ連鎖による遅延耐性ネットワークの一評価手法
○水原涼太・酒井和也・福本 聡（首都大東京）
pp. 73 - 76
DC2018-84
はやぶさ2搭載光学航法機器の信頼性評価 ～ リソース制約を満たす高信頼性システムの軌道上実証 ～
○檜原弘樹（NECスペーステクノロジー/NEC）・佐野淳平（NECスペーステクノロジー）・益田哲也（NEC）・大嶽久志・岡田達明・尾川順子・津田雄一（JAXA）
pp. 77 - 82
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．