講演内容

　近年の犯罪やテロの増加に伴い、顔認証技術に関する必要性は年々⾼まっている。NECでは⽶国国⽴標準技術研究所により実施された評価プログラムにおいて5回トップを獲得し、製品は世界70か国で採⽤されている。本講演では、顔認証における最新トピックを紹介する。

佐藤洋⼀ISSソサイエティ会⻑からの紹介⽂

　映像中の顔を⼿掛かりに個⼈を認証する顔認証技術は、犯罪やテロの抑⽌から各種施設での⼊退室管理まで⽣活のさまざまな場⾯で応⽤が進み、私たちの社会を⽀える重要な基盤技術となっています。今岡仁先⽣は、⽶国国⽴標準技術研究所主催の顔認証ベンチマークテストで世界⼀を5回達成するなど、顔認証技術の研究開発におけるトップランナーとしてこの分野を世界的にリードしてこられました。今回のウェビナーでは、今岡先⽣に顔認証技術の最前線について語っていただきます。

講師略歴

今岡 仁（正員）

1997年⼤阪⼤学⼤学院⼯学研究科応⽤物理学専攻博⼠課程修了。1997年NEC基礎研究所⼊社。脳視覚情報処理に関する研究に従事。2002年NECマルチメディア研究所に異動。顔認証技術に関する研究開発に従事。主に顔照合アルゴリズムに関する研究開発を⾏い、NECの顔認証技術を応⽤した製品「NeoFace」の事業化に貢献。海外空港出⼊国管理等に45ヶ国で採⽤。2010年NECの研究開発チームリーダーとして、顔認証技術に関するNISTベンチマークテストにおけるトップ性能獲得に貢献。以降、現在まで5回連続トップ獲得。