| 【主 催】 |
電気学会中国支部 |
| 【共 催】 |
電子情報通信学会・映像情報メディア学会・情報処理学会
電気設備学会・計測自動制御学会・日本電気技術者学会 各中国支部
中国・四国工学教育協会 産業教育部会 |
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| 【日 時】 |
平成23年12月16日（金）15:00〜16:30 |
| 【会 場】 |
広島工業大学 Nexus21 NX-602教室
（〒731-5193 広島市佐伯区三宅 2-1-1) |
| 【演 題】 |
「フラットパネル製造工程におけるデュアルチャンネルシステムに基づく非接触配線検査手法」 |
| 【講 師】 |
羽森 寛 氏 （オー・エイチ・ティー（株）取締役研究開発部長）
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| 【概 要】 |
近年，急速に拡大するフラットパネル製造工程において，歩留まり改善の
ための検査および欠陥修復工程の研究は重要なものとなってきている。本
研究では、a-Si TFT配線内に存在する電気的欠陥について，非接触で高
速かつ正確に検出するため，デュアルチャネルシステムに基づく方式を利
用した新たな検査手法を提案する。
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| 【参加費】 |
無料 |
| 【定 員】 |
100名 |
【事前の
申込】 |
不要 |
| 【問合先】 |
広島工業大学情報学部情報工学科
加 藤 浩 介
〒731-5193 広島市佐伯区三宅２丁目１−１
TEL: 082(921)5394
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