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リコンフィギャラブルシステム研究会 (RECONF) (検索条件: 2014年度)
「from:2014-11-26 to:2014-11-26」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:30 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | メモリをベースにしたマイコン周辺回路用フィールドプログラマブルデバイスのLSI実装 ○川村嘉郁・岡田尚也・松田吉雄（金沢大）・松村哲哉（日大）・牧野博之（阪工大）・有本和民（岡山県立大）  VLD2014-108 DC2014-62 |
我々は，マイコン周辺回路用に最適化された，メモリをベースにしたフィールドプログラマブルシーケンサ&メモリ（FPSM）を提... [more] | VLD2014-108 DC2014-62 pp.239-244 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫（九工大） VLD2014-109 DC2014-63 |
本論文では，FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる．半導体技術の進歩により，微細化，高... [more] | VLD2014-109 DC2014-63 pp.245-250 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 15:10 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | クラスタ分析を用いた教師あり学習によるLSIのバーイン不良予測の一手法 ○鉄川彰吾・宮本誠也・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズ） VLD2014-110 DC2014-64 |
LSIの製造テスト工程には，ウェハテスト，パッケージテスト，バーインテストなどがある．バーインテストには特に費用がかかる... [more] | VLD2014-110 DC2014-64 pp.251-256 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 15:35 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 多数決スイッチ回路によるn-フォールトトレラントシステムの諸考察 ○岩井仁司 VLD2014-111 DC2014-65 |
n 回故障を起こしても、その都度エラーを許容し、ミッションを継続する多重多数決冗長構成法を提案している．このような方法と... [more] | VLD2014-111 DC2014-65 pp.257-262 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 16:00 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 時間的三重化によるソフトエラー耐性向上の解析的評価 ○土井龍太郎・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2014-112 DC2014-66 |
集積回路の微細化・高集積化に伴って，集積回路に発生するソフトエラーの発生頻度が上昇している．ソフトエラーは，集積回路の信... [more] | VLD2014-112 DC2014-66 pp.263-268 |
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