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終了後に懇親会を開催いたします． ★信頼性研究会（R） 専門委員長 柳 繁 副委員長 若井 一顕 幹事 弓削 哲史， 木村 光宏 幹事補佐 海生 直人， 馬渡 宏泰 日時 2007年 9月14日(金) 10：30～15：50 会場 高知工科大学 工学部 A106教室（〒782-8502 高知県香美市土佐山田町宮ノ口185．高知龍馬空港からタクシーにて15分、JR土佐山田駅からバス１０分、JR高知駅からバス４５分．http://www.kochi-tech.ac.jp/kut_J/access/index.html．電子・光システム工学科 真田 克．0887-57-2118） 議題 ＬＳＩの評価・診断・解析及び、品質 9月14日(金) 午前 （10：30～15：50） (1) 10:30 - 10:55 SEM中マイクロプラズマによる材料プロセス 大井秀宣・岡崎康朗・高橋那欣・○八田章光（高知工科大） (2) 10:55 - 11:20 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ～ フィードバック故障による発振現象の取得 ～ ○真田 克・中村朋矢・橋田啓示（高知工科大） (3) 11:20 - 11:45 RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行 ○吉澤 豊（NECエレクトロニクス） −−− 昼食 （ 85分 ） −−− (4) 13:10 - 13:40 ［招待講演］故障診断における欠陥モデルの動向 ～ チュートリアル ～ ○佐藤康夫（日立） (5) 13:40 - 14:05 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について ○中村優介・大和勇太・温 暁青・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）・K. K. サルージャ（ウィスコンシン大） (6) 14:05 - 14:30 LSIテスタとデバイス間の伝送経路の評価とシミュレーションモデル化について ○土屋秀和・浅川 毅（東海大）・佐藤正幸（ジェネシス・テクノロジー） −−− 休憩 （ 30分 ） −−− (7) 15:00 - 15:25 電子部品の故障解析および良品解析 ～ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ～ ○今井康雄・田中大起（沖エンジニアリング） (8) 15:25 - 15:50 LSIの製造品質評価としての構造解析手法の活用 ○梶沼雅仁・溝口 彰・武内広一朗（三菱電機） 一般講演（25）：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter；日本信頼性学会；品質談話会共催 ◎終了後，懇親会を予定していますので御参加ください． ◎PM4:48（大学始発－高知駅行き）バスにて高知市内へ移動 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 10月19日(金) 九州大学 [8月17日(金)] テーマ：信頼性一般 11月16日(金) 中央電気倶楽部 [9月20日(木)] テーマ：半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性 12月14日(金) 機械振興会館 [10月19日(金)] テーマ：信頼性国際規格,保全性,信頼性一般 【問合先】 弓削哲史(防衛大学校) TEL 046-841-3810 FAX 046-844-5903 E-mail:  ge n  Last modified: 2007-08-27 09:13:42 |
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