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★信頼性研究会（R） 専門委員長 渡邉 均 (東京理科大) 副委員長 木村 光宏 (法政大) 幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大) 日時 2011年12月16日(金) 13：00～15：15 会場 機械振興会館（〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8．営団地下鉄日比谷線神谷町駅下車徒歩１０分ほか．https://www.ieice.org/jpn/about/syozai.html．田村信幸．042-387-6262） 議題 信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 12月16日(金) 午後 （13：00～15：15） (1) 13:00 - 13:25 ディペンダビリティに関する国際標準化の動向 ～ IEC TC56の概要と国際会議での動向 ～ ○原田文明（富士ゼロックスアドバンストテクノロジー）・後藤博之（富士通）・高村博紀（JST）・木下佳樹・武山 誠（産総研） (2) 13:25 - 13:50 塗膜下での金属腐食と信頼性確保 ○齋藤博之・藤本憲宏・澤田 孝・竹内陽祐（NTT） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (3) 14:00 - 14:25 ファイルバージョニングプロトコルにおいて読み込みアクセスによる負荷を最小化する複製ノード配置 福本 聡・○大原 衛（首都大東京）・木村光宏（法政大） (4) 14:25 - 14:50 多状態連続k-out-of-n:Fシステムの最適配置傾向 ○秋葉知昭（山形県立産技短大）・山本久志・長塚豪己（首都大東京） (5) 14:50 - 15:15 ソフトウェアメトリクスを考慮したソフトウェア信頼性評価の一般化 恵谷勇介・○岡村寛之・土肥 正（広島大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2012年2月17日(金) オムロンラーニングセンタ [12月14日(水)] テーマ：機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，協賛：IEEE CPMT JAPAN) 【問合先】 田村信幸（法政大学） TEL 042-387-6262 FAX 042-387-6126 E-mail:       i Last modified: 2011-10-20 14:35:18 |
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