Googleフォームをご利用できない場合は，下記の申込書の内容をメール本文に記入の上，ap_ac-amt_secretary(a)mail.ieice.org（無線端末・アンテナシステム測定技術研究会実行委員会事務局）宛お送り下さい．迷惑メール防止のため，@を(a)にしています．
「携帯電話端末に関するSAR/電力密度測定法」
- 日時：
2019年12月19日(木) 11:00～12:00
- 講師：
国立研究開発法人 情報通信研究機構
大西 輝夫 様
- 講演タイトル：
「携帯電話端末に関するSAR/電力密度測定法」
- 会場：拓殖大学 八王子国際キャンパス 恩寵記念館（東京都八王子市）
- 参加費：3,000円(AMT研究会参加費および見学会参加費含む）
※同日12/19(木)の午後に同会場にてAMT研究会(第二種研究会)を開催いたします．
※同日12/19(木)の研究会終了後、17:30頃より、会場周辺にて技術交流会を開催予定です．こちらへの出欠もご回答ください．
無線端末・アンテナシステム測定技術チュートリアルワークショップ（第１９回）受講申込フォーム †
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(6) 12月19日(木)のチュートリアル講演会(参加費3,000円）に参加されますか？：＊
（参加する／参加しない）←いずれかを残す
(7) 12月19日(木)のAMT研究会(資料代1,000円）に参加されますか？：＊
（参加する／参加しない）←いずれかを残す
(8) 12月19日(木)の技術交流会（参加費4,000円を予定）に出席されますか？：＊
（出席する／出席しない）←いずれかを残す
(9) AP研メーリングリストに登録
AP研からのお知らせをメールでご連絡します
(する/しない/すでに登録済み) ←いずれかを残す
(10) ご要望がございましたらどうぞ
（見積書・納品書・請求書の伝票が必要な方はこちらにその旨と希望する宛名をお書き下さい ）
