| 講演名 | 2015-03-06 銅・金材料の静止接触通電特性(ショートノート(卒論・修論特集)) 大塚 祐司, 町田 高浩, 姜 卓異, 上野 貴博, 澤 孝一郎, 渡辺 克忠, |
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| 抄録(和) | 近年,携帯端末の普及・発展によりセンサや素子等の電子部品の小型化が進んでいる.それに伴い接続用コネクタは非常に小さくなった.それらの接続コネクタは,一般家庭から産業界まで多方面で多く使用されている.電気接触機構が使用されている主な例は以下の通りである.家庭用電源プラグ,オーディオコネクタのジャック-プラグ,パーソナルコンピュータのコネクタにおいて,電力・電気信号伝達のため使用されている.実際は,接触通電部分のトラブルとして,汚染や摩耗,表面皮膜生成が要因となる接触不良が多数報告されている.そこで本研究では,導電性が優れている銅ブラシと金ブラシを使用し,銅スリップリングに対する静止接触通電試験を実施した. |
| 抄録(英) | In recent years, miniaturization of electronic components and elements sensor is progressing by the spread and developing mobile phone terminal. Connector for connecting was very small. Connector is widely used in many fields to the general household from industry. The main example for electrical contact mechanism is used as follows. Power supply plug, Plug jack audio connector, the connector of the personal computer, these are used for power transmission. Actually, it is reported that the trouble of electrical contact part occurs many situation. Thus, in this study, the stationary contact test was operated under using Cu brush, Au brush against the Cu slip-ring. |
| キーワード(和) | 接触抵抗 / 酸化皮膜 / 金ブラシ |
| キーワード(英) | Contact Resistance / Oxide Film / Gold Brush |
| 資料番号 | EMD2014-113 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2015/2/27(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 銅・金材料の静止接触通電特性(ショートノート(卒論・修論特集)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Load current characteristics of rotationary contacts for copper and gold metals |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 接触抵抗 / Contact Resistance |
| キーワード(2)（和/英） | 酸化皮膜 / Oxide Film |
| キーワード(3)（和/英） | 金ブラシ / Gold Brush |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大塚 祐司 / Yuji Ootsuka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 町田 高浩 / Takahiro Mashida |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 姜 卓異 / Takui Kyou |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 上野 貴博 / Takahiro Ueno |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 渡辺 克忠 / Yoshitada Watanabe |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2015-03-06 |
| 資料番号 | EMD2014-113 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 504 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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