| 講演名 | 2015-02-13 IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 王 森レイ, 井上 大画, ハナン テイ・アル・アワディー, 樋上 喜信, 高橋 寛, |
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| 抄録(和) | テスト時の過剰のIRドロップ(瞬時電圧降下)による抵抗性オープン故障診断の結果が誤診断となる問題がある。本稿では、既存の抵抗性オープン故障の検出パターンからIRドロップの低い診断用パターンを選択する手法を提案する.提案手法は,抵抗性オープン故障の最長活性化経路と励起条件を維持しながらドントケア抽出を行い,ドントケア埋め込みによって診断用パターンを求める.効果的なIRドロップ低減を実現するため,焼きなまし最適化アルゴリズムをベースにしたドントケア埋め込み手法を提案する.実験結果より、提案手法によってIRドロップが低減できることを示す。 |
| 抄録(英) | Resistive Open Faults (RoF) are known to be major sources of small delays in Deep Sub-Micron devices. Excessive IR drop during test results in delay variation that would cause incorrect diagnosis for small delay faults such as RoFs. We believe that the patterns with low IR drop can help avoid incorrect diagnosis. Therefore, we propose a test pattern selection method for RoF diagnosis under the constraint of low IR drop. Our method first selects the patterns for target faults whose longest sensitized path have high IR drop from a pre-generated test set, and then it conducts x-identification and x-filling on the risky pattern set to generate safety patterns with low IR drop for the target faults. Simulated Annealing algorithm is introduced for exploring the best x-filling. Experimental results show the effectiveness of our selection. |
| キーワード(和) | 抵抗性オープン故障 / IRドロップ / 診断用テスト生成 / X埋め込み / 焼きなまし法 |
| キーワード(英) | resistive open fault / IR drop / diagnosis test generation / X-filling / simulated annealing |
| 資料番号 | DC2014-87 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2015/2/6(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Simulated Annealing based LowIR Drop Pattern Selection Method for Resistive Open Fault Diagnosis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 抵抗性オープン故障 / resistive open fault |
| キーワード(2)（和/英） | IRドロップ / IR drop |
| キーワード(3)（和/英） | 診断用テスト生成 / diagnosis test generation |
| キーワード(4)（和/英） | X埋め込み / X-filling |
| キーワード(5)（和/英） | 焼きなまし法 / simulated annealing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / S Wang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Ehime University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 井上 大画 / Taiga Inoue |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Ehime University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ハナン テイ・アル・アワディー / T. Al-Awadhi Hanan |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Ehime University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Ehime University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Ehime University |
| 発表年月日 | 2015-02-13 |
| 資料番号 | DC2014-87 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 446 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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