| 講演名 | 2015-02-13 階層BIST向けLFSRシード生成法(階層テスト,VLSI設計とテスト及び一般) 佐脇 光亮, 大竹 哲史, |
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| 抄録(和) | 組込み自己テスト(BIST)で用いるテストパターン生成器の一つに線形フィードバックレジスタ(LFSR)がある.LFSRから出力された疑似ランダムパターンをテストパターンとしてテスト対象回路に印加するが,ランダムパターン耐性故障(RPRF)に対しては,LFSRの初期値(シード)を交換するリシード手法が用いられる.一般にリシードには,新たに故障を検出するパターンに展開されるシードを用いる.これまでに著者らの研究グループでは,スキャンBIST向けのシード生成モデルを用いた1パスシード生成法を提案した.本論文ではこの手法を応用し,レジスタ転送レベル(RTL)情報を用いた階層BISTに対するシード生成法を提案する.提案法では,回路要素までの順序深度に基づいてLFSRを時間展開したXORネットワークを用いてシード生成モデルを構成する.提案法は,BIST環境での故障の検出可能性を判定可能で,検出可能故障に対しては,展開されたテストパターンがそれを検出するシードの生成を保証する.RTLベンチマーク回路に対する実験では,提案法により,RPRFに対するシードを生成でき,リシードにより故障検出率を向上できることを示す. |
| 抄録(英) | A linear feedback shift register (LFSR) is used as a test pattern generator of built-in self-test (BIST). In BIST, although pseudo-random patterns generated by the LFSR are applied to a circuit under test (CUT) as test patterns, reseeding, which replaces the seed of the LFSR, is used to detect random pattern resistant faults (RPRFs). In general, a seed that when expanded by the LFSR will produce a test pattern for an RPRF is used for reseeding. So far, we have proposed a one-pass seed generation method for generating such a seed for scan based BIST. In this paper, we employ the concept of the one-pass seed generation for hierarchical BIST methods utilizing register-transfer level (RTL) information. The proposed method can identify untestable faults under the BIST environment and guarantees to generate seeds for detectable faults. In our experiments for several RTL benchmark circuits, we show that fault coverage can be improved by using the generated seeds for RPRFs of the circuits. |
| キーワード(和) | BIST / LFSR / シード生成 / 時間展開モデル / 遅延故障 / 階層BIST |
| キーワード(英) | BIST / LFSR / seed generation / time expansion model / delay faults / hierarchical BIST |
| 資料番号 | DC2014-85 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2015/2/6(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 階層BIST向けLFSRシード生成法(階層テスト,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method of LFSR Seed Generation for Hierarchical BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(3)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(4)（和/英） | 時間展開モデル / time expansion model |
| キーワード(5)（和/英） | 遅延故障 / delay faults |
| キーワード(6)（和/英） | 階層BIST / hierarchical BIST |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐脇 光亮 / Kosuke SAWAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Oita University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi OHTAKE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学工学部 Faculty of Engineering, Oita University |
| 発表年月日 | 2015-02-13 |
| 資料番号 | DC2014-85 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 446 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |