| 講演名 | 2015-01-29 NANDフラッシュメモリとストレージクラスメモリを用いたハイブリッドSSDの信頼性と性能の関係解析(メモリシステム,集積回路とアーキテクチャの協創「ロボット,ヒューマノイド,AI技術及び一般」) 瀧下 博文, 田中丸 周平, 保坂 翔吾, 上口 光, 竹内 健, |
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| 抄録(和) | NANDフラッシュメモリは書き込み/消去回数ごとに性能が変化する.エラー訂正符号の強度をフラッシュメモリの信頼性に合わせて変化させ,フラッシュメモリだけのSSDとフラッシュメモリにストレージクラスメモリ(SCM)を組み合わせたHybrid SSDで複数のワークロードを用いて性能評価を行った.さらに,アプリケーションごとに要求されるSCMの信頼性を解析し,SCMの訂正可能ビットエラー率が最大で1%となることが分かった. |
| 抄録(英) | The Performance of NAND flash memory changes during write/erase cycling. This paper evaluates the performance of NAND-only solid-state drives (SSDs) and NAND flash memory/storage-class memory (SCM) hybrid SSDs with various applications when of the strength of the error-correcting code (ECC) is adjusted to NAND's reliability. Moreover, in every application, the required SCM reliability is analyzed. The acceptable BER of SCM can be 1% at maximum. |
| キーワード(和) | NANDフラッシュメモリ / SCM / ECC / 信頼性 |
| キーワード(英) | NAND flash memory / SCM / SSD / ECC / reliability |
| 資料番号 | ICD2014-111 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2015/1/22(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | NANDフラッシュメモリとストレージクラスメモリを用いたハイブリッドSSDの信頼性と性能の関係解析(メモリシステム,集積回路とアーキテクチャの協創「ロボット,ヒューマノイド,AI技術及び一般」) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Relation between Performance and Reliability of NAND Flash memory/Storage-class memory Hybrid SSD |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | NANDフラッシュメモリ / NAND flash memory |
| キーワード(2)（和/英） | SCM / SCM |
| キーワード(3)（和/英） | ECC / SSD |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / ECC |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 瀧下 博文 / Hirofumi TAKISHITA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 田中丸 周平 / Shuhei TANAKAMARU |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科:東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University:Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 保坂 翔吾 / Shogo HOSAKA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 上口 光 / Koh JOHGUCHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
| 発表年月日 | 2015-01-29 |
| 資料番号 | ICD2014-111 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 436 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |