講演名 2015-01-30
同軸プローブ変化法に基づいた電波吸収体の複素誘電率と複素透磁率の同時測定法の不確かさの推定(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)
陳 春平, 加藤 紀樹, 加藤 丈政, 鎌田 克洋, 穴田 哲夫,
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抄録(和) 電波吸収体を設計・評価するために複素誘電率と複素透磁率を同時に測定する技術が要求されている.一方,フランジ付き開放端同軸プローブを用いて2つの複素材料定数(複素誘電率と複素透磁率)を同時に決定するため,少なくとも2つの異なる測定条件に基づいたベクトル反射係数が必要である.本稿では,我々のグループが提案した寸法(内径と外径)の異なる2つの開放端同軸プローブを用いて2つのベクトル反射係数を測定する「同軸プローブ変化法」の不確かさの推定法について検討した.まず,スペクトル領域法に基づいて,同軸プローブの理論モデルを導出した.更に,「同軸プローブ変化法」を用いて測定した複数誘電率と複数透磁率の不確かさの推定法を提案し,測定結果の不確かさと測定試料の厚さおよび周波数の関係や,プローブの組み合わせの選択の測定結果の不確かさへの影響などを調べた.最後,シミュレーションと実験により,「同軸プローブ変化法」とその不確かさの推定法の有効性を確かめた.
抄録(英) EM-parameters-measurement techniques play very important role in material developments. Due to the advantages such as broadband, wide-compatibility, open-structure, etc., open-ended-coaxial-probe-based techniques have been treated as one of the most potential methods for the simultaneous and nondestructive characterization of complex permittivity and permeability of high loss materials. This report discusses a new method, named "Two-Probe-Method" as well as the uncertainty analysis procedure. First, Spectral-Domain-Immittance(SDI) approach is used to model the measurement structure. Secondly, after the derivation of the uncertainty equations, the relationship between measurement uncertainties and the electrical thickness of the material under test and operation frequency is investigated as well as the influence of the combination of the probes to the measurement uncertainties. The broadband frequency-swept measurement/simulation has been conducted on a typical absorbing material using APC-7 and 3.5mm coaxial probes. The experimental results agree with the reference data, while the newly-derived uncertainty formulae make a good estimation on the tread of the measurement errors, which validates the feasibility and effectiveness of this improved technique.
キーワード(和) 複素誘電率 / 複素透磁率 / 開放端同軸プローブ / 非破壊測定法 / 不確かさ / 電波吸収体 / 同軸プローブ変化法
キーワード(英) Complex permeability / Complex permittivity / Open-ended coaxial probe / Nondestructive measurement / Uncertainty / absorbing material / Coaxial-Probe-Variation Method
資料番号 PN2014-75,OPE2014-200,LQE2014-187,EST2014-129,MWP2014-97
発行日

研究会情報
研究会 MWP
開催期間 2015/1/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Microwave and Millimeter-wave Photonics (MWP)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 同軸プローブ変化法に基づいた電波吸収体の複素誘電率と複素透磁率の同時測定法の不確かさの推定(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Uncertainty Analysis of Coaxial-Probe-Variation Method for the Simultaneous Measurement of Permittivity and Permeability of High-loss Materials
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 複素誘電率 / Complex permeability
キーワード(2)(和/英) 複素透磁率 / Complex permittivity
キーワード(3)(和/英) 開放端同軸プローブ / Open-ended coaxial probe
キーワード(4)(和/英) 非破壊測定法 / Nondestructive measurement
キーワード(5)(和/英) 不確かさ / Uncertainty
キーワード(6)(和/英) 電波吸収体 / absorbing material
キーワード(7)(和/英) 同軸プローブ変化法 / Coaxial-Probe-Variation Method
第 1 著者 氏名(和/英) 陳 春平 / Chun-Ping Chen
第 1 著者 所属(和/英) 神奈川大学工学部電気電子情報工学科
Department of Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University
第 2 著者 氏名(和/英) 加藤 紀樹 / Noriki Kato
第 2 著者 所属(和/英) 神奈川大学工学部電気電子情報工学科
Department of Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University
第 3 著者 氏名(和/英) 加藤 丈政 / Takemasa Kato
第 3 著者 所属(和/英) 神奈川大学工学部電気電子情報工学科
Department of Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University
第 4 著者 氏名(和/英) 鎌田 克洋 / Katsuhiro Kamata
第 4 著者 所属(和/英) 神奈川大学工学部電気電子情報工学科
Department of Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University
第 5 著者 氏名(和/英) 穴田 哲夫 / Tetsuo Anada
第 5 著者 所属(和/英) 神奈川大学工学部電気電子情報工学科
Department of Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University
発表年月日 2015-01-30
資料番号 PN2014-75,OPE2014-200,LQE2014-187,EST2014-129,MWP2014-97
巻番号(vol) vol.114
号番号(no) 434
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日