| 講演名 | 2015-01-23 意図的な電磁妨害波によって発生するオーバークロックの検出方法に関する検討(通信,無線電力伝送,EMC一般) 長尾 篤, 奥川 雄一郎, 高谷 和宏, 林 優一, 本間 尚文, 青木 孝文, |
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| 抄録(和) | LSIモジュールは,供給されるクロック信号の周期が乱れるオーバークロックにより誤作動することが知られている.電磁妨害波がLSIモジュールに侵入する場合も主にオーバークロックによって誤作動が生じている可能性がある.本稿では,LSIモジュールのイミュニティ向上のためには,誤作動を引き起こす支配的要因を明確にすることが重要であるとの観点から,LSIモジュール内部にオーバークロックの発生を検出する判定回路を実装する手法を提案するとともに,本手法を用いて,電磁妨害波印加時のオーバークロック発生の有無を検証した.具体的には,クロック信号に意図的なグリッチを挿入した場合,および無変調連続波(CW)を印加した場合についてオーバークロックの発生の有無を評価した.その結果,グリッチ挿入時の判定回路の出力からオーバークロック発生の有無を正確に判定可能であることが確認された.また,CWを印加した検証においては,CWがLSIモジュール内部を伝達し,クロック信号に重畳しやすい周波数において,オーバークロックに起因すると考えられる判定回路の出力が確認された.このときのクロック信号の時間波形を観測したところ,CWが重畳することによって発生するクロック信号の不正な電圧変動に起因して見かけ上のクロック周期が変化し,オーバークロックが引き起こされていることが明らかとなった. |
| 抄録(英) | Overclocking, which occurs because of the disruption of the clock frequency, causes LSI modules to malfunction. The Electromagnetic interference can also cause an LSI module to malfunction owing to overclocking. On the other hand, the clarification of malfunction factors is required to increase the immunity of LSI modules. With that, this paper proposes a method for detecting overclocking when electromagnetic interference is applied; the presence of overclocking is determined based on the output results from an evaluation circuit, which is installed in an LSI module. Further, experiments were conducted for a case in which glitches were introduced into the clock signal and another case where a continuous wave was applied, to examine the validity of the proposed method. As a result, we confirm that the evaluation circuit can correctly determine if overclocking is occurred or not. In addition, we confirm the outputs of the evaluation circuit that indicated the occurrence of overclocking when a continuous wave was injected. And, the change of the clock cycle was confirmed by fluctuation in voltage which is occurred by overlapping CW from observation of clock signal. Therefore, the evaluation circuit proposed in this paper was confirmed to be useful in detecting the overclocking. |
| キーワード(和) | LSIモジュール / 意図的な電磁妨害波 / オーバークロック / グリッチ / 無変調連続波 |
| キーワード(英) | LSI module / Intentional electromagnetic interference / Overclocking / Glitch / Continuous wave |
| 資料番号 | EMCJ2014-100 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2015/1/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 意図的な電磁妨害波によって発生するオーバークロックの検出方法に関する検討(通信,無線電力伝送,EMC一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study on Detection Method for Clock Error due to Intentional Electromagnetic Interference |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSIモジュール / LSI module |
| キーワード(2)（和/英） | 意図的な電磁妨害波 / Intentional electromagnetic interference |
| キーワード(3)（和/英） | オーバークロック / Overclocking |
| キーワード(4)（和/英） | グリッチ / Glitch |
| キーワード(5)（和/英） | 無変調連続波 / Continuous wave |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長尾 篤 / Atsushi Nagao |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTT環境エネルギー研究所 NTT Energy and Environment Systems Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 奥川 雄一郎 / Yuichiro Okugawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NTT環境エネルギー研究所 NTT Energy and Environment Systems Laboratories |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高谷 和宏 / Kazuhiro Takaya |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NTT環境エネルギー研究所 Tohoku University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学 Tohoku University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 本間 尚文 / Naofumi Homma |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東北大学 Tohoku University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 青木 孝文 / Takafumi Aoki |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東北大学 Tohoku University |
| 発表年月日 | 2015-01-23 |
| 資料番号 | EMCJ2014-100 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 398 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |