講演名 | 2014-12-12 NiOを用いたReRAMのセミフォーミング後における抵抗スイッチング特性(シリコン関連材料の作製と評価及びディスプレイ技術) 篠倉 弘樹, 西 佑介, 岩田 達哉, 木本 恒暢, |
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抄録(和) | 我々はこれまで,NiOを用いた抵抗変化型メモリ(ReRAM)において,NiO堆積時の酸素流量を適切に調節することでフォーミングに2つのモードを有することを確認した.本研究では,2つ目のモードであるセミフォーミング後に注目して抵抗スイッチング特性を調べた.セミフォーミング後において,電流値が量子化コンダクタンスの値G_0(=77.5μS)に従って離散的に変動することを見出した.また,セミフォーミング直後のコンダクタンスが初期状態のコンダクタンスG_ |
抄録(英) | In our previous work, forming processes showing two kinds of modes in resistive switching memory (ReRAM) based on NiO deposited with a proper oxygen gas flow rate were observed. In this work, resistive switching characteristics in the second mode, after semi-forming, were investigated. It was found that current after semi-forming fluctuated discretely by the quantized conductance G_0 (= 77.5 μS), and that the conductance values in most cells right after semi-forming were G_0 independent of the conductance in initial state G_ |
キーワード(和) | 抵抗変化型メモリ / 酸化ニッケル / 量子ポイントコンタクト |
キーワード(英) | ReRAM / Nickel oxide / Quantum point contact |
資料番号 | EID2014-38,SDM2014-133 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EID |
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開催期間 | 2014/12/5(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | NiOを用いたReRAMのセミフォーミング後における抵抗スイッチング特性(シリコン関連材料の作製と評価及びディスプレイ技術) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Resistive switching characteristics of NiO-based ReRAM after semi-forming process. |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 抵抗変化型メモリ / ReRAM |
キーワード(2)(和/英) | 酸化ニッケル / Nickel oxide |
キーワード(3)(和/英) | 量子ポイントコンタクト / Quantum point contact |
第 1 著者 氏名(和/英) | 篠倉 弘樹 / Hiroki SASAKURA |
第 1 著者 所属(和/英) | 京都大学工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 西 佑介 / Yusuke NISHI |
第 2 著者 所属(和/英) | 京都大学工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 岩田 達哉 / Tatsuya IWATA |
第 3 著者 所属(和/英) | 京都大学工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 木本 恒暢 / Tsunenobu KIMOTO |
第 4 著者 所属(和/英) | 京都大学工学研究科電子工学専攻:京都大学光・電子理工学教育研究センター Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University:Photonics and Electronics Science and Engineering Center (PESEC), Kyoto University |
発表年月日 | 2014-12-12 |
資料番号 | EID2014-38,SDM2014-133 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 359 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |