| 講演名 | 2014-12-19 微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 微摺動に擬衝撃加振を加えることの効果 和田 真一, 岩本 紘樹, 越田 圭治, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,鉛直方向のハンマリング加振によって,電気接点に,繰り返し過渡的外力を与えることのできるシステム(ハンマリング加振システム)を設計・開発し,さらにこれを用いて減衰的微小振動の影響に関する解析を行ってきた.そして,接触抵抗の時系列変動を計測し,この微小振動が電気接点に与える影響に関する指摘を行ってきた.また,磁歪アクチュエータと並行板バネを用いることより,電子デバイス界面を直接的に摺動させることができるシステム(精密微摺動システム)を設計・開発し,さらにこれを用いて過渡的摺動の影響に関する解析を行ってきた.そして,接触抵抗の時系列変動を計測し,この微小摺動が電気接点に与える影響に関する指摘を行ってきた本論文では,定常的に微小摺動が与えられている環境に曝露されている電気接点に,過渡的な擬衝撃的外力を加えることによって,電気接点の劣化現象を考察する. |
| 抄録(英) | Authors have designed and developed a hammering oscillation system which gives transient external-force repeatedly to electrical contacts by hammering in the vertical direction. They have analysed an effects of the damped micro-oscillation by the system and have indicated that there is the effect applied to the electrical contacts by the oscillation by means of measuring time-series fluctuation of the contact resistance. And they have also designed and developed a micro-sliding system which slides the interfaces of electrical devices directly by a magneto-strictive actuator and parallel-leaf springs. They have analysed another effect of the transient sliding by the system and have also indicated that there is the effect applied to the electrical contacts by the micro-sliding by means of measuring time-series fluctuation of the contact resistance. In this paper, the authors discuss the degradation phenomenon of electrical contacts by adding transient and quasi-impulsive external-force to the contact in the circumstance that there is micro-sliding constantly. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / ハンマリング加振システム / 精密微摺動システム / 最小摺動振幅 / 有効質量 / 有効加速度 / 最小衝撃加速度 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / hammering oscillation system / micro-sliding system / minimal sliding amplitude / effective mass / effective acceleration / minimal impulsive acceleration |
| 資料番号 | EMD2014-97 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2014/12/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 微摺動に擬衝撃加振を加えることの効果 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism and a hammering oscillation mechanism : The effect of adding quasi-impulsive oscillation to micro-sliding |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | ハンマリング加振システム / hammering oscillation system |
| キーワード(4)（和/英） | 精密微摺動システム / micro-sliding system |
| キーワード(5)（和/英） | 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude |
| キーワード(6)（和/英） | 有効質量 / effective mass |
| キーワード(7)（和/英） | 有効加速度 / effective acceleration |
| キーワード(8)（和/英） | 最小衝撃加速度 / minimal impulsive acceleration |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岩本 紘樹 / Hiroki IWAMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本工業大学 Nippon Institute of Thechnology |
| 発表年月日 | 2014-12-19 |
| 資料番号 | EMD2014-97 |
| 巻番号（vol） | vol.114 |
| 号番号（no） | 382 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |