講演名 | 2014-12-19 電極/溶液界面の光を用いるその場観察(電池,電気化学,表面修飾,触媒,界面その場測定,キャパシタ) 松田 直樹, 岡部 浩隆, |
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抄録(和) | スラブ光導波路分光法、表面増強ラマン散乱分光法を用いる電極/溶液界面のその場観察方法と結果に関して発表する。ITO電極上にホスホン酸化合物の自己組織化単分子(self-assembled monolayer: SAM)膜を形成させ、チトクロームcを固定化し直接電子移動(direct electron transfer: DET)反応をその場観察した。具体的にはスラブ光導波路(slab opticl waveguide: SOWG)分光法を用いた紫外-可視吸収スペクトルのその場観察からチトクロームcのITO電極表面への吸着過程、吸着後の直接電子移動DET反応のその場観察を行った。10-carboxydecylphosphoric acid (10-CDPAを用いたITO電極の場合、未修飾のITO電極と比較し、セル中のリン酸緩衝溶液を交換する洗浄過程に対する効果は非常に大きい事がわかった。100回洗浄し場合、固定化されたチトクロームcはそれぞれ20及び60%程度が脱離した。 |
抄録(英) | In situ observation of direct electron transfer (DET) reaction of cytochrome c immobilized on ITO electrode was performed by slab optical waveguide spectroscopy. Additionally in situ observation of DET reaction of cytochrome c immobilized on ITO electrode modified with phosphonic acid compounds self-assembled monolayer film was carried out. |
キーワード(和) | スラブ光導波路分光法 / チトクロームc / ITO電極 / 直接電子移動反応 / 時間分解吸収スペクトル / その場観察 / ホスホン酸自己組織化単分子膜 |
キーワード(英) | slab optical waveguide spectroscopy / cytochrome c / ITO electrode / direct electron transfer reaction / time-resolved absorption spectra / in situ observation / phosphonic acid self-assembled monolayer |
資料番号 | OME2014-75 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OME |
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開催期間 | 2014/12/12(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 電極/溶液界面の光を用いるその場観察(電池,電気化学,表面修飾,触媒,界面その場測定,キャパシタ) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | In Situ on Solid/Liquid interfacial Phenomena by Slab Optical Waveguide and Surface-enhanced Raman Scattering Spectroscopy |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | スラブ光導波路分光法 / slab optical waveguide spectroscopy |
キーワード(2)(和/英) | チトクロームc / cytochrome c |
キーワード(3)(和/英) | ITO電極 / ITO electrode |
キーワード(4)(和/英) | 直接電子移動反応 / direct electron transfer reaction |
キーワード(5)(和/英) | 時間分解吸収スペクトル / time-resolved absorption spectra |
キーワード(6)(和/英) | その場観察 / in situ observation |
キーワード(7)(和/英) | ホスホン酸自己組織化単分子膜 / phosphonic acid self-assembled monolayer |
第 1 著者 氏名(和/英) | 松田 直樹 / Naoki MATSUDA |
第 1 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所生産計測技術研究センター Measurement Solution Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 岡部 浩隆 / Hirotaka OKABE |
第 2 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所生産計測技術研究センター Measurement Solution Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) |
発表年月日 | 2014-12-19 |
資料番号 | OME2014-75 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 383 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 5 |
発行日 |