講演名 | 2014-12-01 Carbon nanotube(CNT)を用いた不揮発性メモリデバイスの信頼性評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) 柳沢 英祐, 寧 渉洋, 竹内 健, |
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抄録(和) | |
抄録(英) | |
キーワード(和) | Carbon nanotube / 不揮発性メモリ |
キーワード(英) | Carbon nanotube / non-volatile memory |
資料番号 | ICD2014-91,CPSY2014-103 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 2014/11/24(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | Carbon nanotube(CNT)を用いた不揮発性メモリデバイスの信頼性評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Reliability evaluation of Carbon Nanotube (CNT) based non-volatile memory |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | Carbon nanotube / Carbon nanotube |
キーワード(2)(和/英) | 不揮発性メモリ / non-volatile memory |
第 1 著者 氏名(和/英) | 柳沢 英祐 / Eisuke YANAGIZAWA |
第 1 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electoronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 寧 渉洋 / Sheyang NING |
第 2 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科:東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 Department of Electrical, Electoronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University:Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo |
第 3 著者 氏名(和/英) | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electoronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
発表年月日 | 2014-12-01 |
資料番号 | ICD2014-91,CPSY2014-103 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 345 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 56 |
発行日 |