講演名 | 2014-12-01 抵抗変化型メモリ(ReRAM)の書き込み特性の評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) 西川 進, 寧 渉洋, 竹内 健, |
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抄録(和) | |
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キーワード(和) | ReRAM / 不揮発性メモリ / 書き込みプログラム |
キーワード(英) | ReRAM / Non-volatile memory / Write program |
資料番号 | ICD2014-89,CPSY2014-101 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 2014/11/24(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 抵抗変化型メモリ(ReRAM)の書き込み特性の評価(ポスターセッション,学生・若手研究会) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Evaluation of ReRAM write characteristics |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ReRAM / ReRAM |
キーワード(2)(和/英) | 不揮発性メモリ / Non-volatile memory |
キーワード(3)(和/英) | 書き込みプログラム / Write program |
第 1 著者 氏名(和/英) | 西川 進 / Shin NISHIKAWA |
第 1 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 寧 渉洋 / Sheyang NING |
第 2 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科:東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University:Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering University of Tokyo |
第 3 著者 氏名(和/英) | 竹内 健 / Ken TAKEUCHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 中央大学理工学部電気電子情報通信工学科 Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Faculty of Science and Engineering, Chuo University |
発表年月日 | 2014-12-01 |
資料番号 | ICD2014-89,CPSY2014-101 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 345 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 53 |
発行日 |