講演名 2014-12-23
GaAsSbトンネルダイオードのドーピング制御による170GHzミリ波感度の向上(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
高橋 剛, 佐藤 優, 中舍 安宏, 芝 祥一, 原 直紀, 岩井 大介,
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抄録(和) 高感度のミリ波受信用デバイスとして、GaAsSbを用いたヘテロ接合型トンネルダイオードの一種であるバックワードダイオードを開発した。InPに格子整合したp-GaAsSbとn-InGaAsで構成されるこのダイオードはゼロバイアスおよび室温で動作し、従来のショットキーダイオードより高い検波特性を持つことが特徴である。ダイオードのドーピング濃度を最適化することで、ショットキーダイオードの理論限界を超える非線形特性、94GHzで20,000V/Wの高い検波感度を達成した。さらに、接合容量を抑制した構造を用い、170GHzで2,200V/Wの検波感度を得た。このダイオードとInP HEMT低雑音増幅器を組み合わせることで、極めて高い感度のミリ波受信器を実現できる可能性を持つ。
抄録(英) Highly sensitive GaAsSb-based backward diodes were developed for millimeter-wave detection. The diodes consisted of p-GaAsSb/i-InAlAs/n-InGaAs heterojunction layers which were lattice matched to InP substrate. They can operate at room temperature and zero-bias condition. We achieved large sensitivity of 20,000 V/W was obtained at 94 GHz when doping concentration in the backward diodes was optimized. Furthermore, sensitivity over 2,000 V/W was obtained at 170 GHz by adopting planar doping in the n-InGaAs layer. We believe that extremely sensitive millimeter-wave receiver could be realized by integrating the backward diodes with InP-based HEMTs.
キーワード(和) トンネルダイオード / バックワード / ミリ波 / 非線形 / GaAsSb / ゼロバイアス / 検波 / 感度
キーワード(英) Tunnel diode / Backward / Millimeter wave / Nonlinearity / GaAsSb / Zero bias / Detection / Sensitivity
資料番号 ED2014-108
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2014/12/15(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) GaAsSbトンネルダイオードのドーピング制御による170GHzミリ波感度の向上(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Improvement in sensitivity at 170 GHz of GaAsSb-based tunnel diodes by adjusting doping concentration
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) トンネルダイオード / Tunnel diode
キーワード(2)(和/英) バックワード / Backward
キーワード(3)(和/英) ミリ波 / Millimeter wave
キーワード(4)(和/英) 非線形 / Nonlinearity
キーワード(5)(和/英) GaAsSb / GaAsSb
キーワード(6)(和/英) ゼロバイアス / Zero bias
キーワード(7)(和/英) 検波 / Detection
キーワード(8)(和/英) 感度 / Sensitivity
第 1 著者 氏名(和/英) 高橋 剛 / Tsuyoshi TAKAHASHI
第 1 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所:富士通(株)
Fujitsu Laboratories Ltd.:Fujitsu Limited
第 2 著者 氏名(和/英) 佐藤 優 / Masaru SATO
第 2 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所:富士通(株)
Fujitsu Laboratories Ltd.:Fujitsu Limited
第 3 著者 氏名(和/英) 中舍 安宏 / Yasuhiro NAKASHA
第 3 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所:富士通(株)
Fujitsu Laboratories Ltd.:Fujitsu Limited
第 4 著者 氏名(和/英) 芝 祥一 / Shoichi SHIBA
第 4 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所:富士通(株)
Fujitsu Laboratories Ltd.:Fujitsu Limited
第 5 著者 氏名(和/英) 原 直紀 / Naoki HARA
第 5 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所:富士通(株)
Fujitsu Laboratories Ltd.:Fujitsu Limited
第 6 著者 氏名(和/英) 岩井 大介 / Taisuke IWAI
第 6 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所
Fujitsu Laboratories Ltd.
発表年月日 2014-12-23
資料番号 ED2014-108
巻番号(vol) vol.114
号番号(no) 387
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日