講演名 | 2014-11-28 格子整合系InAlN/AlGaN 2DEGヘテロ構造のMOCVD成長と特性評価(窒化物半導体光・電子デバイス,材料,関連技術,及び一般) 藤田 周, 三好 実人, 江川 孝志, |
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抄録(和) | InAlN/AlGaNヘテロ構造は、高耐圧特性と高濃度の二次元電子ガス(2DEG)生成という二つの特長を併せ持つことが期待できる。本研究では、有機金属気相成長法(MOCVD法)を用いた格子整合系InAlN/AlGaNヘテロ構造の結晶成長と特性評価を行った。チャネル層組成をAl_<0.1>Ga_<0.9>N、Al_<0.2>Ga_<0.8>Nの2水準として試料作製を行ったところ、いずれにおいてもほぼ格子整合系となるヘテロ構造が作成できた。また、成長した試料について電気特性を評価したとこと、3×10^<13>/cm^2に達する程の非常に高い2DEG濃度を有することが示された。ヘテロ構造内の分極電荷を計算したところ、実測2DEG濃度と近い値が得られており、この2DEG濃度がInAlN障壁層の高い自発分極電荷によるものと示唆された。 |
抄録(英) | InAlN/AlGaN two-dimensional-electron gas (2DEG) heterostructures are expected to be able to show extremely high breakdown voltages as well as high 2DEG densities. In this study, we attempted to grow lattice-matched InAlN/AlGaN heterostructures by metalorganic chemical deposition (MOCVD) and to characterize them. Samples with the channel layers of Al_<0.1>Ga_<0.9>N of Al_<0.2>Ga_<0.8>N were successfully grown with nearly-lattice-matched structures. Their 2DEG densities were measured to be as high as 3×10^<13>/cm^2. It was confirmed that such high 2DEG densities are explained as a result of their high spontaneous polarization in InAlN barrier layers. |
キーワード(和) | InAlN/AlGaNヘテロ構造 / MOCVD / 2次元電子ガス |
キーワード(英) | InAlN/AlGaN heterostructures / MOCVD / two-dimensional-electron gas |
資料番号 | ED2014-93,CPM2014-150,LQE2014-121 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
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開催期間 | 2014/11/20(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 格子整合系InAlN/AlGaN 2DEGヘテロ構造のMOCVD成長と特性評価(窒化物半導体光・電子デバイス,材料,関連技術,及び一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | MOCVD growth and characterization of nearly-lattice-matched InAlN/AlGaN 2DEG heterostructures |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | InAlN/AlGaNヘテロ構造 / InAlN/AlGaN heterostructures |
キーワード(2)(和/英) | MOCVD / MOCVD |
キーワード(3)(和/英) | 2次元電子ガス / two-dimensional-electron gas |
第 1 著者 氏名(和/英) | 藤田 周 / Shu FUJITA |
第 1 著者 所属(和/英) | 名古屋工業大学極微デバイス機能システム研究センター Research Center for Nano-Device and System, Nagoya Institute of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 三好 実人 / Makoto MIYOSHI |
第 2 著者 所属(和/英) | 名古屋工業大学極微デバイス機能システム研究センター Research Center for Nano-Device and System, Nagoya Institute of Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 江川 孝志 / Takashi EGAWA |
第 3 著者 所属(和/英) | 名古屋工業大学極微デバイス機能システム研究センター Research Center for Nano-Device and System, Nagoya Institute of Technology |
発表年月日 | 2014-11-28 |
資料番号 | ED2014-93,CPM2014-150,LQE2014-121 |
巻番号(vol) | vol.114 |
号番号(no) | 336 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |